ASTM D4935-10：平面材料电磁屏蔽效能测试方法

"ASTM D4935-10是一种标准测试方法，用于测量平面材料的电磁屏蔽效能（EMSE），适用于30MHz至1.5GHz的频率范围。该标准主要关注远场电磁波的屏蔽效果，可以计算出磁性（H）源对于电薄样品的近场SE值，而从同一远场数据中也可推算出电（E）场SE值，但其有效性和适用性尚未得到充分证实。" 在IT行业中，电磁屏蔽效能（Electromagnetic Shielding Effectiveness, SE）是一项重要的技术指标，特别是在电子设备的设计和制造中。ASTM D4935-10标准提供了一种精确的流程来评估平面材料对电磁辐射的阻挡能力。这种屏蔽效能的测量对于确保电子设备不受干扰、保护敏感电路免受电磁污染以及满足电磁兼容（Electromagnetic Compatibility, EMC）法规至关重要。 测试方法的核心在于确定材料在特定频率下的屏蔽效能，以判断其在抑制电磁辐射传播方面的性能。测试范围从30MHz到1.5GHz，这个频率区间涵盖了大多数通信、广播和工业应用。在较低频率下，由于电容耦合减少导致位移电流下降，因此测试的有效性可能会降低。 本标准中提到的平面材料可能包括各种金属片、复合材料、涂覆材料等，这些材料常被用作电子设备的外壳或内部组件的隔离层，以防止外部电磁场影响设备内部的工作，或者防止设备自身产生的电磁场对外部环境造成干扰。 在实际操作中，测试过程会涉及到设置一个发射天线来模拟电磁波源，然后通过接收天线测量经过材料屏蔽后的信号强度。通过比较未屏蔽和屏蔽情况下的信号衰减，可以计算出材料的屏蔽效能。此外，对于电薄样品，还可以根据测量数据推算出近场的屏蔽效能，这对于评估材料在复杂环境中的实际效果具有重要意义。 然而，值得注意的是，尽管可以从远场数据中推算出电场SE值，但这些推算值的有效性和适用性尚未得到充分验证。这意味着在特定应用中，可能需要进一步的实验来确认这些数值的可靠性。 ASTM D4935-10标准为电磁屏蔽效能的测量提供了一个统一且标准化的方法，对于工程师、研究人员以及电子设备制造商来说，这是一项至关重要的工具，可以帮助他们评估和优化材料的电磁屏蔽性能，以满足不断增长的电磁兼容需求。