优化测试覆盖率：VLSI设计与可测性方法探讨

《VLSI测试方法学和可测性设计》是一本专为电子信息类读者，特别是从事集成电路设计、制造、测试、应用，以及EDA（电子设计自动化）和ATE（自动测试设备）领域专业人员撰写的教材。该书由雷绍充、邵志标和梁峰三位作者编写，由中国电子工业出版社于2005年出版。本书的核心内容涵盖了超大规模集成电路（VLSI）测试的各个方面，如电路测试的基础概念和理论，数字电路的描述与模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成策略，专用可测性设计技术，如扫描和边界扫描理论、IDDQ测试、随机和伪随机测试方法等。 书中强调了故障覆盖率的重要性，指出即使在实际操作中，低于理论计算值的故障覆盖率也能达到较低的缺陷等级。例如，为了保证5 DPM（缺陷每百万门）的缺陷等级，理论计算所需的故障覆盖率是90%，但在实践中，50%的覆盖率就足以满足需求。这种灵活性体现了VLSI测试中的实用性和优化策略。 此外，作者还深入探讨了与M序列相关的其他测试生成方法、内建自测试（In-System Test, IST）原理，以及针对不同类型的电路结构，如内存和SoC（系统级芯片）的可测性设计方法。这些内容不仅有助于理解电路设计的全面性，还能提升工程师在面对复杂VLSI系统时的问题解决能力。 本书作为教材，适合高等院校高年级学生和研究生使用，旨在通过系统的理论学习和实践指导，帮助他们掌握VLSI设计中的关键技能，并促进跨专业领域的交流。版权方面，任何未经许可的复制或抄袭行为都将受到法律追究。 《VLSI测试方法学和可测性设计》不仅是一本技术手册，还是一本提供实践经验的参考书籍，对于想要在这个快速发展的领域取得成功的学生和从业者来说，无疑是一份宝贵的资源。通过阅读和学习本书，读者将能够深入了解VLSI测试的最新进展和技术挑战，为其职业生涯奠定坚实的基础。