TS-SHIS成像光谱仪自适应条纹消除与图像配准研究

"时空联合调制空间外差干涉成像仪自适应条纹模板研究" 本文主要探讨了时空联合调制型空间外差干涉成像光谱仪（TS-SHIS）在推扫图像处理中面临的一个关键问题：明显的干涉条纹。这些条纹会对传统的图像配准方法产生显著影响，导致配准精度下降。为了克服这一挑战，文章提出了一种创新的自适应条纹模板构建方法，旨在消除TS-SHIS推扫图像中的干涉条纹。 该方法的核心在于利用目标干涉数据来构建自适应的条纹模板。通过这种方式，可以更精确地识别和处理图像中的条纹模式，从而降低其对图像配准过程的干扰。在实施过程中，首先分析和理解TS-SHIS图像的干涉特性，然后基于这些特性构建模板，确保模板能够有效地匹配和消除图像中的条纹。 接下来，论文采用了曲面拟合加梯度法对消条纹后的图像进行配准。这种方法结合了曲面拟合的平滑性与梯度法的局部变化敏感性，可以在保持图像细节的同时实现精确的图像对齐。曲面拟合用于全局形状的恢复，而梯度法则有助于捕捉微小的局部变化，这对于高精度的图像配准至关重要。 仿真和实验结果验证了所提方法的有效性。研究表明，该方法能成功地消除TS-SHIS推扫图像中零光程差位置的干涉条纹，显著降低了条纹对配准计算的影响。同时，消条纹处理对图像配准计算结果的影响控制在0.02像素以内，证明了该方法的高精度和实用性。 这项工作对于提高TS-SHIS成像系统的图像处理能力和后续分析的准确性具有重要意义。提出的自适应条纹模板构建方法不仅解决了条纹干扰的问题，还为其他类似成像技术的图像处理提供了新的思路。未来的研究可能进一步优化模板构建策略，以适应更复杂的条纹模式，并探索在更大规模数据集上的应用。