MicroWindows、QtE、MiniGUI与opengui:嵌入式GUI方案深度对比

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本文主要探讨了在嵌入式系统中常用的几种GUI解决方案,重点关注了MicroWindows和QtE MiniGUI两个开源选项,以及Gik+和OpenGUI。随着嵌入式设备的多样化和用户需求的增长,一个高效、可靠且适应性强的GUI对于实时嵌入式系统至关重要。 首先,嵌入式GUI的兴起是由于其简化人机交互,提高用户体验的作用。对于嵌入式系统,理想的GUI需要具备以下特点:轻量级、低资源占用、高性能、高可靠性和可配置性。这些特性使得GUI在嵌入式或实时环境中扮演着核心角色。 MicroWindows作为一款开源的嵌入式GUI软件,具有高度兼容性,试图与Win32API无缝对接。其采用分层设计,允许底层修改,支持多种处理器架构,如Intel和ARM。然而,MicroWindows的局限在于其窗口处理功能不完善,缺少硬件加速,图形引擎效率不高,特别是圆弧图处理存在低效算法,控件和驱动功能有待提升。此外,由于核心维护力量不足,项目发展曾面临停滞。 另一解决方案是QtE MiniGUI,虽然没有明确提及,但提到了MiniGUI的移植,可能暗示QtE继承了MiniGUI的一些优点。QtE作为一个图形库,可能提供了更丰富的组件和更好的用户体验,但由于文中未详述,我们无法具体分析其优劣。 OpenGUI是一个C++编写的库,基于汇编实现的x86图形内核,提供高级的图形和窗口接口。它的优点可能在于底层控制和性能优化,但同样没有提及其具体优势和挑战。 Gik+虽然没有在文中详细介绍,但从名字推测可能是另一个嵌入式GUI的选择,可能侧重于特定领域或技术栈,但没有足够的信息来深入分析。 选择哪种嵌入式GUI取决于应用的具体需求,如所需功能的完备性、性能要求、开发环境和成本考虑。开发者需要权衡各种GUI工具的优势和不足,以确保最终选择能满足项目目标并保持系统的高效运行。
2021-04-19 上传
【RT-Thread作品秀】基于 lvgl 的漏电保护装置校验仪 UI 界面设计作者:赵加文 概述低压漏电引起的各种安全事故已经严重影响到生产生活,威胁到生命财产安全。而解决这一现象的设备就是漏电保护开关,漏电保护开关的漏报率、误报率是很关键的参数,因此有必要对漏电保护开关的性能进行测试。因此,漏电保护装置校验仪是很有必要的。 开发环境硬件:ART-Pi 开发板,正点原子 480*272 4.3寸 RGB 屏幕 RT-Thread版本:4.0.3 开发工具及版本: RT-Thread Studio 2.0.0 :编写 编译 调试 下载代码 STM32CubeMX 6.1.0: codeBlocks 20.03:用于在 PC 机上进行 lvgl 模拟 MCU_Font V2.0: 用于转换中文,然后使得中文能够在 lvgl 中显示 RT-Thread使用情况概述在 UI 设计的整个过程中,使用到 RT-Thread 的部分主要有以下几个方面: 内核部分:动态线程,信号量 组件部分:PIN 设备、I2C 设备、TOUCH 设备框架、LCD 设备框架、finsh 组件 软件包部分:littlevgl2rtt、gt9147 硬件框架软件框架说明系统整体流程图: 软件模块说明整个UI 系统设计所遵循的是 lvgl 图形库的一个回调函数的机制,将各个事件与对应的操作所绑定起来,当滑动滑条时对应的滑条的回调函数就会被触发,那么就会执行滑条回调函数的内容,当滑动点击文本框时,文本框对应的回调函数就会被触发,进而创建键盘的控件,通过键盘输入所需要的数据。 演示效果图片展示: 演示视频: 比赛感悟这次参赛,之前还没有使用过 RT-Thread studio 这个集成开发环境,这次在使用 ART-Pi 的时候全程是使用 RT-Thread studio 这个开发环境,在使用的过程中也碰到了很多问题,有时候明明配置了相关组件,但是保存之后,并没有代码添加到工程里。现在也没有弄明白问题出在哪里,虽然存在着这里问题,但是在使用的过程中,还是非常的方便,整个开发过程就如同搭积木一样方便,与 RTT操作系统贴合的非常的紧密。 除此之外,便是在使用 lvgl 的过程中碰到了很多的问题,现在网上的教程基本是 lvgl v6 版本的教程,关于 lvgl v7 版本的教程很少,而且 v6版本与 V7 版本的 API 相差很大,不能按照 V6 版本来使用 V7 ,在这个过程中摸索了好多,同时也感受到了 lvgl 的魅力,使用在嵌入式系统上是非常不错的选择。