VLSI测试原理与架构：设计可测试性解析

"VLSI测试原理与架构：设计可测性" 《VLSI测试原理与架构：设计可测性》是一本针对超大规模集成电路（VLSI）测试技术的经典著作，由于中文领域内相关资料稀缺，这本书的英文版成为了重要的学习资源。作者雷绍充的中文版可能存在错误，因此英文原版更受推荐。 在当前的电子设计领域，随着系统级芯片（SoC）的复杂性和工艺技术的不断缩小，确保整个系统的正确行为变得至关重要。这本书涵盖了VLSI测试的广泛知识，深入讲解了基础理论以及最新的先进技术。它不仅适合初学者了解故障仿真、自动测试向量生成（ATPG）、内存测试、设计测试性（DFT）和内置自测试（BIST）等基础知识，也适合经验丰富的工程师学习关于软错误防护、高速BIST、DRAM BIST、测试压缩、MEMS测试、FPGA测试和射频（RF）测试等领域的最新进展。 书中详细探讨了以下关键知识点： 1. 故障仿真：这是验证集成电路功能是否正常的关键技术，通过模拟潜在的故障模式来评估设计的健壮性。 2. ATPG：自动测试向量生成是生成用于检测电路故障的测试序列的过程，对于保证测试覆盖率和降低测试成本至关重要。 3. 内存测试：内存单元的可靠性对整个系统至关重要，书中的内容将涵盖内存测试策略和方法。 4. DFT（设计测试性）：这是在设计阶段就考虑测试性的方法，包括添加额外的逻辑以简化后期测试，如扫描链设计。 5. BIST（内置自测试）：通过集成测试逻辑到芯片内部，实现自我检测和自我修复，提高测试效率和产品质量。 6. 软错误防护：随着工艺尺寸减小，软错误（如单粒子翻转）成为需要关注的问题，书中将介绍如何设计具有抗软错误能力的系统。 7. 高速BIST：测试不仅要覆盖所有可能的故障，还需要在实际工作速度下进行，以确保在真实环境中的性能。 8. 测试压缩：为了减少存储和应用测试向量所需的资源，测试数据的压缩技术被广泛应用。 9. MEMS测试：微电子机械系统（MEMS）的测试具有特殊挑战，书中有针对性地讨论了这些技术。 10. FPGA测试：FPGA因其灵活性和可重配置性，在许多应用中得到广泛使用，其测试方法与传统ASIC不同。 11. 射频测试：随着无线通信和物联网的发展，RF测试技术的需求日益增长，书中将涉及RF集成电路的测试策略。 《VLSI测试原理与架构：设计可测性》为读者提供了一个全面的VLSI测试知识框架，无论你是学生还是专业工程师，都能从中受益匪浅，提升在复杂和异构系统测试领域的专业能力。