大口径非球面光学测试的子孔径拼接方法

"Subaperture stitching testing of an aspherical surface" 这篇资源主要介绍了一种用于测试大尺寸、非球面表面的新方法，该方法结合了子孔径拼接技术和干涉计量法，无需借助其他null光学元件。这种方法的核心原理是通过分区域测试，然后将这些小区域的数据进行拼接和综合优化，利用齐次坐标变换和最小二乘法拟合来实现精确的表面形状重建。 在理论研究的基础上，文章建立了综合优化的拼接模式，并开发了一种有效的拼接算法。这涉及到对每个子孔径测量结果的处理，通过计算和校正各子区域的数据，以消除误差并确保整个表面的连续性。此外，作者还设计了专门的SSI（Subaperture Stitching Interferometry）软件，用于大型非球面的原型测试。 此方法的优势在于能够处理大尺寸和非轴对称的非球面，这对于现代光学系统的设计和制造至关重要，因为这些组件在诸如望远镜、激光器、相机镜头等高级光学设备中有广泛应用。通过子孔径拼接，可以克服单个检测系统的局限性，提高测试精度和范围。 文章可能还包括对实验结果的分析，展示了实际应用中这种方法的效果，以及与传统测试方法的比较。通过这种方法，可以实现对复杂非球面表面的高效、高精度测试，从而推动光学制造技术的进步。 "Subaperture stitching testing of an aspherical surface"这项工作揭示了一种创新的非球面表面检测技术，它利用子孔径拼接和干涉计量的结合，为大型和非轴对称非球面的测试提供了解决方案，对于提升光学元件制造的质量和效率具有重要意义。