R&S示波器DDC技术：融合多域测试的解决方案

"本文深入探讨了R&S公司示波器所采用的数字下变频(DDC)技术，针对电子设计日益复杂的测试需求，它提供了多领域的联合测试解决方案。传统上，工程师们面对测试空间拥挤、设备连接复杂和同步问题时，渴望一台集成了多种功能的高效仪器。DDC技术在此背景下显得尤为重要。 DDC技术通过数字信号处理，利用NCO（数字式控频器）生成与射频或中频信号相同频率的正弦或余弦波，通过与原始信号相乘并经过滤波和重采样，将高频信号转化为基带信号，这使得示波器能够在保持高频率分析能力的同时，避免因分辨率带宽(RBW)过小导致的捕获时间延长和采样率下降的问题。这对于捕捉高频信号以及进行精细的频谱分析极为有利。 然而，尽管DDC技术在克服传统示波器在高频率和矢量信号分析中的局限性方面表现出色，但它仍受限于ADC和DSP的性能。特别是在射频前端进行高精度AD转换，需要极高的采样率，这在处理能力和存储容量有限的示波器中是个挑战。为了实现实时、高效的信号分析，未来的示波器设计还需进一步提升数字信号处理能力，以适应更高频段和长时间信号的测试需求。 R&S公司的DDC技术在示波器中实现了信号从高频到基带的无缝转换，极大地提高了测试效率和准确性，尤其对于现代电子设计中的多域联合测试，具有显著的优势。然而，随着技术的发展，如何优化硬件和算法以克服现有限制，将是示波器设计者持续关注和努力的方向。"