TMS320F2803x微控制器时序参数与测试负载电路

"TMS320F28035 数据仓库生命周期工具箱中的时序参数与测试负载电路" 本文档主要介绍了TMS320F28035微控制器系列在数据仓库生命周期中的时序参数及其测试方法。TMS320F28035属于Piccolo微控制器家族，是一系列高效32位处理器，具备低功耗和低成本特点。这些微控制器适用于各种应用，其时序参数的精确理解和测试对于确保系统的稳定运行至关重要。 时序参数是衡量数字系统性能的关键指标，它们描述了信号在电路中的变化速度和关系。在JEDEC标准100中定义了一些常用的时序符号，如访问时间(a)，周期时间(c)，延迟时间(d)，上升时间(r)，下降时间(f)，建立时间(su)等。这些参数用于确定信号从一个状态转换到另一个状态所需的时间，以及信号的有效性、高阻抗状态和未知状态。 6.7.1章节指出，TMS320F2803x系列的输出信号都基于内部时钟，确保在每个半周期内所有输出转换的发生是同步的。时序图可能不反映实际周期，但文档的相应部分提供了真实周期的示例。 6.7.2章节讨论了测试负载电路。在测试输入要求时，使用小于4V/ns的输入转换率，并且测试器引脚的电子特性和传输线路效应需要考虑在内。例如，可以使用2ns或更长延迟的传输线路来模拟线路效应，但不需在时序表中额外添加或减去这个延迟。 此外，文档还提到了TMS320F28030至TMS320F28035的其他型号，它们共享一些共同的特性，如低电压操作，集成的电源管理和复位功能，以及多种定时和计时选项。微控制器提供高达60MHz的器件性能，内置多个GPIO引脚、CPU定时器、片上存储器和外设接口，如SCI、SPI、I2C、LIN和eCAN。还有动态锁相环(PLL)支持频率变化，以及安全相关的功能，如代码安全模块和安全定时器。 TMS320F28035微控制器系列在设计时充分考虑了时序参数和测试需求，以满足各种应用的高性能和低功耗要求。了解并正确测试这些参数对于开发者来说是确保系统可靠性和兼容性的基础。