随机耦合模型下的复杂腔体电磁干扰统计特性研究

本文研究的是"基于随机耦合模式的复杂空腔耦合效应统计特性"，主要关注在微波脉冲环境下，特别是针对微波脉冲激励下的复杂屏蔽腔体内部电路电磁耦合问题。研究者构建了一个微波混沌腔体模型，通过实测获取包含内部电路的腔体辐射和散射参数，采用随机耦合模型（Random Coupling Model, RCM）对干扰脉冲的能量进行了标准化处理。 研究的核心内容集中在以下几个方面： 1. 微波脉冲特性：研究了不同参数，如脉冲宽度、脉冲间隔和脉冲数目对目标点感应电磁量的统计分布影响。结果显示，当受到微波脉冲干扰时，电路目标点的耦合电磁量相较于恒定功率源的激励更为显著。脉冲能量一定时，这些参数的变化与目标点耦合电磁量之间存在谐振关系，即单脉冲干扰的效果明显优于多脉冲。 2. 干扰路径分析：着重探讨了复杂屏蔽腔体中由于孔隙和电缆线的存在，如何成为电磁干扰进入内部电路的主要通道，这些"后门"耦合途径对设备抗干扰性能的影响不容忽视。 3. 技术应用与意义：这项研究对于提高电子设备在复杂电磁环境中（如高功率微波环境下）的抗干扰能力具有实际价值。通过对复杂屏蔽腔体的微波脉冲“后门”耦合效应的研究，可以为微波电磁脉冲防护策略提供理论依据，对于电磁防护技术的发展具有基础性作用。 4. 方法与关键词：研究采用了随机耦合模型，结合二孔系统和统计特性分析，确定了敏感区域（即电路易受电磁干扰的目标点），这对于实际工程中电磁干扰的预防和控制至关重要。 该论文通过对随机耦合模式的运用，深入剖析了复杂空腔内电磁耦合的统计特性，为理解和优化电子设备在高功率微波环境下的电磁防护提供了新的视角和方法。