运算放大器稳定性：双通道反馈RISO分析（第二部分）

"运算放大器稳定性系列之电容性负载的稳定性——具有双通道反馈的RISO（第二部分）。文章探讨了保持电容性负载稳定的方法之一，即使用具有双通道反馈的RISO技术。文章通过图解和电路分析，详细介绍了如何分析和设计这种电路以确保运算放大器在面对电容性负载时的稳定性。" 本文深入讨论了运算放大器在处理电容性负载时的稳定性问题，特别是采用了具有双通道反馈的RISO方法。RISO（电阻隔离）是一种常见的稳定电容性负载的技术，它通过在放大器输出和反馈网络之间插入一个电阻来改善系统的稳定性。在本篇的第二部分中，作者重点讲解了当RISO与双通道反馈结合时如何影响系统的性能。 首先，文章提到了《电气工程》杂志中的《保持电容性负载稳定的六种方法》，其中包含了Riso、高增益和CF、噪声增益和CF、输出引脚补偿以及具有双通道反馈的RISO。在第10部分，作者聚焦于双通道反馈的RISO方案。通过图10.19展示了电路配置，其中涉及的主要假设和关键参数，如1/b（b的倒数）的计算，对于理解系统行为至关重要。 接着，图10.20提供了FB#21/b的公式推导，解释了如何从高频1/b的值推断出系统的极点和零点位置。在本例中，高频1/b被设定为3.25dB或10.24dB，零点位于19.41Hz。通过TinaSPICE仿真（图10.21和10.22），验证了理论计算的准确性，显示了FB#21/b曲线与OPA177A的开环增益曲线的交互。 最后，图10.23和图10.24展示了最终的环路增益分析，进一步确认了推算的1/b曲线与实际电路表现的一致性。在环路增益为零的频率点(fcl)处，理论分析与仿真结果的接近速率相符，证明了设计的有效性。 该文详细解析了具有双通道反馈的RISO技术如何应用于电容性负载的稳定，通过理论分析和电路仿真，为工程师提供了设计稳定运算放大器系统的重要参考。