VLSI测试方法学与可测性设计解析

"所定义的加法和减法运算对于-国科大-模式识别-2018期末试题" 这篇资源主要涉及的是线性反馈移位寄存器（LFSR）的基础知识，以及模2运算在多项式计算中的应用。在LFSR中，所基于的运算通常是模2运算，这意味着加法和减法是等价的，因为2的模运算具有对称性。例如，当两个二进制数相加或相减时，如果结果的某位超过1，则会向前进位，但模2运算中没有进位的概念，所以0加0或0减0都是0，1加1或1减1都是0。这种特性使得LFSR可以方便地进行二进制的加法或减法操作，而无需考虑传统的进位规则。 描述中给出的实例展示了如何对两个多项式进行模2乘法运算。给定的两个多项式分别是4x^3 + 2x^2 + x + 1和3x^3 + 2x^2 + x。在模2环境下，乘法可以通过逐位相乘然后进行位与（AND）操作来完成，不需要考虑进位。描述中提供的乘法过程展示了一个手动的多项式乘法步骤，首先将每个项分别乘以另一个多项式的各项，然后对结果进行模2加法，也就是按位异或（XOR）操作。这个过程可以转换为二进制表示，以便更清晰地理解运算过程。 在标签“VLSI”中，我们可以联想到超大规模集成电路（Very Large Scale Integration）的相关内容。VLSI测试方法学和可测性设计是集成电路设计的重要组成部分，确保芯片在制造后能够进行有效的功能验证和故障检测。这通常涉及到测试生成算法、扫描设计、边界扫描、IDDQ测试、随机和伪随机测试、内建自测试（BIST）以及数据压缩技术等。这些方法用于检测和定位芯片中的潜在缺陷，提高产品质量，并降低生产成本。 本书《VLSI测试方法学和可测性设计》详细阐述了这些主题，包括电路测试的基本概念、数字电路的描述和模拟方法、组合电路和时序电路的测试生成、专用可测性设计，以及与内存和系统级芯片（SoC）相关的可测性设计策略。该书适合于集成电路设计、制造、测试和应用领域的工程师，以及高等院校相关专业的高年级学生和研究生作为学习材料。通过阅读本书，读者可以了解到从电路级到系统级的完整测试流程，为从事相关工作提供坚实的理论基础。