新方法：基于高阶累积量检测晶体管g-r噪声的非高斯特性

本文主要探讨了利用高阶累积量判断晶体管g-r噪声的方法，发表于2001年的吉林工业大学自然科学学报。g-r噪声通常由晶体管制造过程中诸如PN结附近晶格缺陷和重金属杂质凝聚等缺陷引起，表现为不规则的脉冲噪声，与正态分布特征不符。 首先，文章强调了高阶累积量在信号处理中的重要性，特别是在区分高斯和非高斯过程方面。高阶累积量能够揭示随机变量的非线性特性，当随机变量的高阶矩不为零时，说明它并非来自高斯分布。通过比较任意随机变量与其对应正态随机变量的高阶矩差异，可以量化其偏离正态的程度，即测量其偏态。 在实际应用中，作者针对晶体管低频噪声中的g-r噪声，论证了这种噪声的分布是非高斯的。作者指出，图1中的噪声波形显示出明显的非独立性和脉冲效应，这些特性与正态分布的假设条件相违背。为了证实这一点，他们提出了通过计算晶体管低频噪声的高阶累积量来检测g-r噪声的新方法。 作者的实验验证了这一方法的有效性，即高阶累积量的非零值可以作为g-r噪声存在的指示器。这种方法相较于传统的基于功率谱和二阶累积量分析，提供了更精细的噪声特性分析手段，对于理解和控制晶体管噪声有着重要意义。 总结来说，这篇论文的核心内容是利用高阶累积量作为工具，揭示晶体管低频噪声中g-r噪声的非高斯特性，为噪声分析提供了一种新的诊断方法，这对于优化晶体管设计和提高其性能具有实用价值。同时，它也扩展了我们对噪声理论的理解，特别是对于噪声源识别和噪声抑制策略的发展具有理论支持。