高性能屏蔽室屏蔽效能测试技术规范

"屏蔽室屏蔽效能测试方法" 在IT领域中，屏蔽室的使用至关重要，特别是在电磁兼容性（EMC）测试、信息安全以及敏感电子设备的保护等方面。"屏蔽室屏蔽效能测试方法"标准GB12190-901详细规定了如何评估和计算这种高性能屏蔽室的屏蔽效能。这一标准主要针对的是由金属板构建，能够有效抑制电场和磁场的屏蔽室，特别适合那些尺寸在1.5到15.0米之间的长方形屏蔽室。 屏蔽效能的测试与计算方法是标准的核心内容。它定义了三个标准测试频段：频段Ⅰ（100Hz~20MHz），频段Ⅱ（300~1000MHz），和频段Ⅲ（1.7~12.4GHz）。在频段Ⅰ，测试通常会遇到20~30MHz频段内的谐振效应问题，导致测量结果不稳定，因此该频段不推荐常规测试，但可以参考小环法或频段Ⅱ的方法。在频段Ⅱ和频段Ⅲ，每个频段选取一个代表性频率进行测试，以粗略评估屏蔽室的屏蔽性能。 屏蔽效能的度量单位是分贝（dB），通过比较模拟干扰源在有无屏蔽室情况下的电场强度、磁场强度或功率来计算。具体公式如下： - 频段Ⅰ（磁场强度）：(dB) = 10 log₁₀ (H1 / H2) - 频段Ⅱ（电场强度）：(dB) = 10 log₁₀ (E1 / E2) - 频段Ⅲ（功率）：(dB) = 10 log₁₀ (P1 / P2)，(dB) = 10 log₁₀ (E1 / E2)，或 (dB) = A1 - A2 其中，H1和H2分别代表无屏蔽室和有屏蔽室情况下的磁场强度，E1和E2是电场强度，P1和P2是功率，而A1和A2是检测仪器在不同情况下的衰减器读数。 该标准还引用了GB3907工业无线电干扰基本测量方法，确保在非理想条件的现场也能进行准确的测试。测试过程中，应遵循当前国家标准中的术语、符号和代号，并且注意测试环境对结果的影响，例如谐振效应和天线尺寸选择。 "屏蔽室屏蔽效能测试方法"标准提供了一套详细的测试流程和计算方法，旨在确保高性能屏蔽室能够在各种频率范围内有效地屏蔽电磁干扰，保障电子设备的正常运行和数据安全。对于从事电磁兼容性工程、屏蔽室设计或相关测试的IT专业人员来说，理解和应用这个标准是至关重要的。