锥束CT环状伪影动态电流校正技术及其应用

"基于动态电流的锥束CT环状伪影校正方法" 本文主要探讨了一种针对X射线计算机断层成像(CT)中由平板探测器的坏点和响应不一致导致的环状伪影的校正策略。环状伪影是CT成像中的常见问题，它降低了图像的质量，影响诊断的准确性。传统的坏点检测方法在阈值选择上存在困难，而本文提出的解决方案则有效地解决了这一问题。 该方法的核心是利用探元（探测器单元）响应与管电流之间的线性相关性。通过在不同的管电流设置下，检测那些响应恒定的探元，可以找出响应随机变化和快速达到最大值的异常探元，这些被标记为坏点。坏点检测过程基于探元响应与管电流的相关系数计算，有助于识别出性能不稳定或损坏的探测器单元。 接下来，研究人员以单个管电流下所有探元响应的平均值作为基准，计算同一管电流下各个探元响应曲线与基准曲线之间的转换关系。这一步骤用于建立探测器的一致性校正参数矩阵，该矩阵能够描述探元在不同电流下的响应差异。 最后，通过应用坏点模板和一致性校正参数，对每个探元的输出响应进行校正。实验结果显示，这种方法能有效地去除环状伪影，同时提高图像的信噪比，从而改善了CT图像的整体质量。由于其通用性，该方法不仅适用于特定类型的探测器，还可以广泛应用于各种CT系统。 关键词涵盖了X射线光学、环状伪影校正、相关性分析、坏点检测和一致性校正，显示了该研究在CT成像技术领域的重要贡献。该研究对于提升CT成像的精确性和可靠性具有实际意义，特别是在医疗诊断和无损检测等应用中。通过优化探测器性能，可以进一步减少伪影对图像质量的影响，为临床医生提供更准确的诊断依据。