使用CCS进行DSP程序调试与统计分析

"本文档主要介绍了如何使用Code Composer Studio (CCS)进行程序调试，特别是观察显式测试统计数据的步骤。内容涉及到了DSP/BIOS的RTA Control Panel和Statistics View的使用，以及如何理解并计算SWI的统计数据。" 在现代信号处理中，程序调试是一个至关重要的环节，而CCS作为TI公司的集成开发环境，提供了丰富的调试工具。在本教程中，重点讲解了如何观察显式测试统计数据，这对于理解和优化程序性能至关重要。 首先，为了查看由STSe显式测试提供的信息，我们需要加载程序。在CCS中，选择“文件”>“加载程序”，然后选取刚建立的volume.out文件并打开。接着，通过“工具”>“DSP/BIOS”>“RTA Control Panel”来打开RTA控制面板，右键取消“Allow Docking”选项，使其成为独立窗口，并调整窗口大小以显示所有选项。 在RTA Control Panel中，需要启用特定的跟踪选项，如enable SWI accumulators、enable USER0 trace和global host enable。使能USER0跟踪，这样TRC_query(TRC_USER0)调用将返回0。然后，通过“工具”>“DSP/BIOS”>“Statistics View”打开统计视图，并选择相应的统计选项，如processing_SWI和processingLoad_STS。 统计视图可以显示对象的统计信息。通过调整窗口布局，可以独立显示这两个对象的统计域。启动调试过程，可以通过点击工具栏的运行按钮或者选择“调试”>“运行”。通过比较processingLoad_STS的最大值与processing_SWI的最大值的差，我们可以得到大约1445条指令的执行差异，这个数值基于指令周期。 这里提到的SWI（Software Interrupts）的统计数据是以指令周期为单位的。由于使用CLK_gethtime函数作为处理load值的基准，processingLoad_STS由片内定时计数器计算，相当于指令周期数。这些指令是在processing函数中执行的，而不是在STS_set和STS_delta调用之间。 CCS不仅仅是一个简单的集成开发环境，它还包括代码生成工具、集成开发环境（IDE）、DSP/BIOS插件、RTDX插件以及主机接口和API等组成部分，为实时和嵌入式系统提供了全面的开发支持。从设计概念规划到编程、调试和分析，CCS贯穿整个开发周期，大大提升了开发效率和代码质量。 通过安装和熟悉CCS的各个组件，开发者可以利用其强大的调试和统计功能，有效地进行程序性能优化。在使用CCS之前，确保已经正确安装了目标板和驱动软件，以及CCS本身，这将为后续的开发工作奠定基础。