X射线光栅成像系统:多衬度显微CT的新突破
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更新于2024-08-29
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基于X射线光栅成像的多衬度显微计算层析系统是一种先进的成像技术,利用了第三代同步辐射的单色、可调谐的高强度光源。相较于传统的成像方法,X射线光栅微分相位成像对于由低原子序数(Z)材料构成的样本具有显著的优势,它能提升相位衬度的敏感度。这一技术与计算机层析(CT)技术结合,实现了三维高密度分辨率的成像以及对样品折射率的精确测量。
在上海光源的X射线成像及生物医学应用线站,科研团队成功构建了这种成像系统。该系统的一大亮点是能够从同一套扫描数据中重构出吸收、相位和散射等多种衬度信息,这对于研究低Z材料和生物医学样本具有很高的实用价值。例如,在对标准聚合物样品进行分析时,系统可以实现高精度的定量测量,这对于深入理解材料性质和生物组织结构至关重要。
实验结果显示,这个X射线光栅成像系统不仅适用于无损检测,而且能提供高衬比的图像,这对于生物医学领域如组织结构分析、疾病诊断以及聚合物材料科学的研究有着重要的推动作用。通过同步辐射提供的光源,光栅干涉仪和暗场成像技术的融合,使得成像过程更为高效,信息提取更全面。
总结来说,基于X射线光栅成像的多衬度显微计算层析系统是一项突破性的技术,它在提升成像性能、提高分辨率、实现多种信息的综合获取等方面具有显著优势,有望在未来科学研究和工业应用中发挥关键作用。
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