太赫兹TDS：同步测定样品厚度与折射率的高效方法

本文主要探讨了利用太赫兹时域光谱(THz-TDS)技术进行样品厚度和折射率的同时测定。THz-TDS作为一种先进的光谱分析方法，其优势在于它能快速且精确地获取材料在太赫兹波段的光学参数。然而，样品的厚度对折射率的测量精度有显著影响，而实际测量中往往难以获得精确的厚度数据，这可能导致结果的不确定性。 针对这一问题，研究者们针对Duvillaret等人的方法进行了优化，特别是在计算频段和迭代算法上进行了创新。通过改进，新的方法能够更有效地处理材料内部弱的往返反射信号，从而提高测量的准确性，简化操作流程，并提升效率。这种方法的实用性体现在它可以实现样品厚度与折射率的同步测定，减少了因单独测量带来的误差累积。 为了验证这种方法的有效性，文章具体应用到聚乙烯和硅片这两种典型的材料上。实验结果显示，通过新的THz-TDS技术，能够准确地同时测定这两种材料的厚度和折射率，这证明了该方法在实际应用中的可靠性。 因此，太赫兹时域光谱在结合厚度与折射率测量方面的进展，不仅拓展了光谱学在太赫兹领域的应用，也为科学研究和工程应用提供了更为精确的测量手段。该研究不仅有助于提高材料表征的精度，还有助于推动太赫兹技术在诸如光纤通信、生物医学成像以及材料科学等领域的发展。这一研究成果对于提升太赫兹技术的实用性和应用范围具有重要意义。