STIL标准：数字测试向量数据的接口语言

"Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data.pdf" 标准测试接口语言（STIL，Standard Test Interface Language）是一种用于数字测试向量数据的标准语言，它在数字测试生成工具和测试设备之间提供了一个接口。STIL可以直接作为测试生成工具的输出语言，也可以用作后续处理的中间格式。这个标准由国际电工委员会（IEC）制定，并与IEEE 1450标准相关联，用于标准化半导体集成电路的测试流程。 IEC 62525是STIL的官方标准，其第一版发布于2007年11月，即IEC 62525:2007(E)。这个标准基于IEEE Std. 1450-1999，也就是IEEE 1450™系列标准的一部分，该系列通常被称为“System Test and Diagnosis Interface Standards”（系统测试与诊断接口标准）。STIL被设计用来有效地传输和处理测试模式，这些模式对于ATE（Automatic Test Equipment，自动测试设备）至关重要，用于验证数字电路的功能和性能。 STIL文件包含了一系列指令和数据，用于描述测试向量，这些向量是执行电路功能测试时输入到被测设备的信号序列。这些向量可以是激励向量，即输入到设备的信号，也可以是响应向量，即设备在给定激励后的预期输出。通过STIL，测试工程师可以创建、编辑和分析这些测试模式，以确保半导体设备在生产过程中的质量和可靠性。 STIL支持多种测试操作，包括边界扫描测试、功能测试、内存测试等。它提供了丰富的语法来描述复杂的测试逻辑，例如条件分支、循环和并行操作。此外，STIL还允许用户定义自定义的数据类型和宏，以适应不同的测试需求。 在实际应用中，STIL文件通常由测试生成工具自动生成，如仿真器或逻辑综合工具。然后，这些文件会被ATE读取并执行测试。STIL的标准化确保了不同供应商的工具和设备之间的互操作性，减少了测试系统的集成复杂性。 然而，需要注意的是，版权保护适用于此标准出版物。未经国际电工委员会（IEC）的书面许可，任何部分都不能以任何形式或通过任何方式（电子或机械，包括影印和缩微胶片复制）复制或利用。如果有关于IEEE版权的问题，应直接联系IEEE。获取更多关于STIL标准的使用权限和其他信息请求，应向IEC或当地的IEC成员国委员会咨询。 STIL作为数字测试向量数据的标准接口，对半导体行业的测试自动化和质量控制起着关键作用。它的标准化和广泛应用提高了测试效率，降低了测试成本，并确保了电子产品的高质量。