VLSI测试方法与可测性设计：电路测试与分析

"控制振荡示例-国科大-模式识别-2018期末试题" 本资源涉及的知识点主要集中在VLSI（超大规模集成电路）的测试方法学和可测性设计上，这是集成电路设计领域的重要组成部分。测试方法学和可测性设计旨在确保在电路设计阶段就能考虑到后期的测试需求，以降低测试成本，提高测试效率，并确保产品的质量和可靠性。 首先，题目提及的“控制振荡示例”可能是指在数字电路设计中出现的一种问题，即电路可能会因为某种原因进入无法稳定的状态，形成持续的振荡。例如，SR（Set-Reset）触发器的交叉耦合或非门配置可能导致“不允许的”SR=11状态，引起电路振荡。为了解决这个问题，通常需要引入控制逻辑，如上图所示，通过额外的输入（如A）来避免不期望的振荡状态。 可测性设计（Design for Testability, DFT）是VLSI设计的一个关键方面，它在设计初期就考虑如何简化测试过程。通过采用扫描设计、边界扫描、IDDQ测试、随机和伪随机测试等方法，可以更有效地检测和隔离电路中的故障。例如，扫描设计允许测试向量通过专用的扫描链输入到电路中，以检查每个逻辑单元的功能。 此外，书中还提到了一些经典文献，它们涵盖了测试性度量、概率性测试、高速数据路径电路的可测试性生成、计算机辅助测量和逻辑测试性、易于测试的迭代系统以及组合电路的故障检测复杂性等方面的研究，这些都是VLSI测试方法学的基石。 对于VLSI测试方法学的教育，书中详细介绍了基本概念、理论以及实际操作技术，包括数字电路的描述和模拟、组合电路和时序电路的测试生成、内建自测试（BIST）原理以及数据压缩结构。这些内容对于高校电子信息类学生和研究生深入理解VLSI测试和设计至关重要。 VLSI测试方法学和可测性设计是一门涵盖广泛领域的学科，涉及到电路的诊断、故障模型、测试策略以及硬件资源的优化。理解和掌握这些知识对于集成电路设计、制造、测试和应用的专业人员来说至关重要。