紫外探测器非线性测量技术：功率叠加法的应用

"叠加法测量紫外探测器非线性的技术研究" 本文主要探讨了在266纳米波长下，如何使用叠加法来测定紫外探测器和紫外光功率计的非线性特性。非线性是紫外探测器性能的重要指标，对于其在实际应用中的精度和可靠性至关重要。传统的测量方法可能在某些情况下存在局限性，因此作者提出了一种新的测量策略——功率叠加法。 该方法的核心是设计并实施了一套精确测量紫外探测器非线性的装置，通过偏振分光棱镜实现光路的分离和合并，这显著提升了测量的动态范围。动态范围的增加意味着可以更准确地捕捉到探测器在不同功率输入下的响应变化。同时，为了减少背景光和杂散信号的干扰，采用了外界杂散光屏蔽技术，以提高测量数据的纯净度。 为了自动化测量过程并提高数据处理的准确性，作者还编写了专门的自动测量软件，并优化了数学模型。这些改进有助于降低测量不确定度，从而得到更可靠的非线性参数。实验结果显示，在1纳瓦至100微瓦的功率范围内，测量的重复性小于0.3%，非线性扩展测量不确定度优于0.8%（置信水平k=2）。 这项研究不仅提供了一种新的测量紫外探测器非线性的技术，而且在实际应用中具有较高的实用价值，能有效提升紫外探测系统的性能评估和优化。此外，该方法对于紫外光功率计的非线性测试也有重要的参考意义，对于推动紫外探测技术的发展和应用具有积极的推动作用。