PMAC控制卡驱动的激光扫描尺寸测量系统

1 下载量 46 浏览量 更新于2024-08-30 1 收藏 259KB PDF 举报
"工业电子中的基于PMAC控制卡的激光扫描尺寸测量系统" 本文介绍了一种在工业电子领域中,利用PMAC(Programmable Multi-Axis Controller)控制卡的激光扫描尺寸测量系统,该系统旨在解决机械加工中简单几何尺寸测量的问题。传统的手工测量方法存在精度低、工作强度大以及数据管理不便的缺点。而使用高精度坐标测量仪虽然精度高,但成本和效率并不理想。激光扫描传感器虽能提供高效测量,但需要精确控制的独立运动系统,进一步增加了成本。 该系统结合了激光扫描和光栅尺测量技术,通过PMAC控制卡对普通运动平台的精确控制,实现了对简单一维尺寸的高效、高精度测量。PMAC控制卡读取光栅尺的读数,控制伺服电机驱动实验台上的被测物体运动,同时,激光发射装置和光电检测元件配合工作。当被测物体经过激光束,光电检测元件会因物体边缘导致的光线遮挡产生信号变化,这一变化被PMAC控制卡捕捉并用于计算物体的尺寸。 测量原理主要分为两部分:一是激光扫描,激光发射装置发射的激光束照射在物体上,当物体边缘通过激光束时,光电检测元件检测到变化,产生边缘信号;二是光栅尺读数,PMAC控制卡记录光栅尺的读数,该读数与物体的位置相对应。通过这两个信息的结合,系统能够精确地确定物体边缘的位置,进而计算出物体的尺寸。 整个系统结构包含工控机、PMAC控制卡、运动控制系统(包括光栅尺、伺服电机、丝杠等)、激光发射装置和光电检测装置。光栅尺的高精度使得整个测量系统能够在一定范围内保持高精度测量,同时,非接触式的光电测量方式避免了对被测物体的潜在损伤。 总结来说,基于PMAC控制卡的激光扫描尺寸测量系统是一种创新的解决方案,它有效地结合了现有技术的优势,提高了测量效率,降低了成本,且易于数据管理,特别适用于那些需要频繁、高精度测量简单几何尺寸的工业应用场景。