VLSI测试与可测性设计：电路分析与案例

"该资源是一份关于VLSI(超大规模集成电路)测试方法学和可测性设计的教材，由雷绍充等作者撰写，详细介绍了电路测试的基础理论、数字电路的描述与模拟、组合电路和时序电路的测试生成、专用可测性设计等内容，还包括IDDQ测试、随机和伪随机测试、内建自测试以及数据压缩结构等高级主题。此外，还提供了一个具体的例子，展示了如何计算可测性度量值，以分析电路的可控性和可测性。" 正文: 在VLSI领域，可测性设计是确保集成电路能够有效检测和诊断故障的关键部分。这个资源，"计算可测性度量值示例电路-国科大-模式识别-2018期末试题"，探讨了这一主题，并通过具体的电路实例来说明如何计算可测性度量值。首先，表格列出了不同组合逻辑门的可控性值，这些值反映了逻辑门在给定输入下的可控程度，对于理解电路的行为至关重要。 例如，一个门的可控性值为1表示所有输入组合都能独立地控制输出，而值为0则表示某些输入无法改变输出。在示例电路图5.2中，计算各输入节点的可控性值有助于识别可能存在的冗余逻辑，冗余逻辑可能导致某些故障无法被检测到，从而增加可测性度量值的复杂性。 VLSI测试方法学和可测性设计的教材详细阐述了这一过程背后的理论和技术。书中涵盖了从基本的电路测试和分析概念，到数字电路的描述和模拟，再到组合电路和时序电路的测试生成方法。这些方法包括专用可测性设计（DFT，Design for Testability），如扫描和边界扫描，这些技术允许在不拆卸芯片的情况下进行测试，极大地提高了测试效率。 IDDQ测试是一种不施加时钟信号而仅通过测量电流消耗来检测故障的方法，适合于检测静态功耗异常。随机和伪随机测试原理利用随机或伪随机的激励序列来覆盖可能的故障模式。M序列和其他相关测试生成方法则是为了确保测试覆盖率的全面性。 内建自测试（BIST，Built-In Self-Test）是现代集成电路设计中的一个重要特性，它允许芯片自我诊断，减少了对外部测试设备的依赖。数据压缩结构和压缩关系在大量测试数据的处理中起到关键作用，特别是在大型存储器和系统级芯片（SoC）的可测性设计中。 这本书不仅适合于集成电路设计、制造、测试和应用的专业人士，也是高等院校高年级学生和研究生学习VLSI测试与可测性设计的理想教材。它提供了一个综合的框架，将理论与实践相结合，为深入理解和应用这些复杂的测试技术提供了坚实的基础。