SDRAM测试与排序：SOPC工程实战与问题探讨

本文档主要介绍了在SDRAM (Static Random Access Memory) 的System-on-a-Chip (SOPC) 工程中，如何配置和测试SDRAM的基本外设，以及进行排序操作的过程。首先，作者构建了一个包含SDRAM的SOPC系统，使用了Quartus II编译器和相关头文件，如`alt_types.h`、`system.h` 和`alt_cache.h`。 在SDRAM测试部分，编写了一个名为`test_sdram`的函数，该函数执行了一系列基本的内存读写操作以验证SDRAM的功能。通过将一系列数字0到14写入SDRAM，并在写入后立即刷新数据缓存，然后读取并检查数据是否与预期一致。如果所有数据都正确，函数返回`PASS`，否则返回`NG`。`main`函数调用这个测试函数来实际执行测试。 接下来，文档转向了SDRAM的排序功能实现。为了对数据进行排序，定义了一个最大元素数量为100的线性表，并使用`KeyType`和`ElemType`分别表示关键字类型和元素类型。作者创建了一个结构体来存储排序的关键字和数据，然后设计了一个排序算法（未具体给出），将排序后的结果存储在SDRAM_BASE地址偏移5000的位置。这涉及到内存操作，包括写入排序后的数据和后续的读取验证。 最后，代码示例展示了如何将排序后的数据写入指定位置，但没有提供具体的排序算法实现，这可能是一个留给读者自行实现或者根据需求选择的步骤。整个过程强调了在SOPC环境下对SDRAM进行基础操作和性能验证的重要性，以及在实际应用中可能遇到的问题和调试方法。 本文档提供了SDRAM在SOPC平台上的基本操作指南，包括初始化、测试和排序等关键步骤，对SDRAM的使用和集成有实际参考价值。对于想要深入理解SDRAM在嵌入式系统中的工作原理和实践操作的开发者来说，这是一个宝贵的学习资料。