"ESD模型-测试标准"
静电放电(ESD)模型是评估和设计电子设备抗静电能力的关键工具。TLP(Threshold Leak Pulse)模型是一种用于模拟人体模型(HBM)、机器模型(MM)和其他ESD模型的实验技术,以理解ESD事件对器件的影响。下面将详细介绍这些模型和相关测试标准。
1. ESD模型分类
- 人体放电模式(Human-Body Model, HBM):模拟人与电子设备接触时发生的静电放电,通常采用100pF电容和1.5kΩ电阻的等效电路。
- 机器放电模式(Machine Model, MM):模拟金属工具或机器与设备接触时的静电放电,特点是等效电阻接近0Ω,放电速度快。
- 组件充电模式(Charged-Device Model, CDM):关注设备表面充电后与其他物体接触导致的放电。
- 电场感应模式(Field-Induced Model, FIM):考虑电磁场变化引起的感应放电。
- 系统级产品测试的IEC电子枪空气放电模式:针对系统级别的ESD测试。
- TLP模型:用于研究ESD防护器件特性的精确测试方法。
2. HBM和MM测试方法标准
- MIL-STD-883C method 3015.7:美国军用标准,定义了HBM的测试条件。
- EIA/JEDEC JESD22-A114-A:电子工业协会/固态技术协会标准,提供了HBM和MM的测试规范。
3. CDM模型和测试方法标准
- IEC 61000-4-2:国际电工委员会标准,涵盖CDM测试,包括接触放电和空气放电。
4. EIC模型和测试方法
- EIC(Electrostatic Induction Coupling)模型可能指的是特定的ESD测试方法,但没有提供详细信息。
5. TLP及其测试方法
- TLP模型通过矩形脉冲模拟HBM放电,脉冲上升时间和能量与HBM匹配,用于测量器件的触发电压、回退电压和二次崩溃电压等关键参数。
6. 拴锁测试
- 检查器件在ESD事件后是否能保持功能完整,通常涉及连续脉冲放电以观察器件性能退化。
7. I-V测试
- 电流-电压(I-V)特性测试用于分析器件在ESD脉冲下的响应,揭示器件的导通电压和电流特性。
8. 测试标准介绍
- 国际和行业的标准确保了ESD测试的一致性和可重复性,有助于确保电子产品的可靠性。
了解这些模型和测试标准对于设计ESD防护措施、提高产品抗静电性能至关重要。通过TLP等测试,工程师可以更准确地评估和优化ESD防护器件的设计,以保护电子设备免受潜在的静电损害。