RU30L30M-VB: 30V P沟道DFN8封装高性能MOSFET
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更新于2024-08-03
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RU30L30M-VB是一种高性能的P沟道低阈值(D-S)MOSFET,采用先进的Trench FET技术,具备出色的热性能和小型化设计。该MOSFET采用了DFN8(3X3)封装,具有以下主要特性:
1. **环保友好**:符合IEC 61249-2-21标准,不含卤素,对环境友好。
2. **散热效率高**:采用PowerPAK®封装,具有低热阻特性,能够有效降低元器件的温度,尤其是在紧凑的1.07mm厚度下。
3. **严格测试**:产品经过100% Rg和UIST测试,确保了可靠性和稳定性。
4. **符合RoHS指令**:符合2002/95/EC RoHS指令,满足电子废弃物管理和有害物质限制的要求。
5. **广泛应用领域**:适用于各种应用场合,如负载开关、适配器开关以及笔记本电脑等。
6. **表面安装**:适合1"x1" FR4板的表面安装,但需注意在10秒的焊接时间下操作,对于无引脚组件,建议避免使用烙铁进行手动焊接。
7. **功率规格**:
- 集成的连续 Drain-Source电压(VDS)高达-30V。
- Gate-Source电压(VGS)支持±20V范围,连续工作。
- 在25°C条件下,最大连续Drain电流(ID)可达-45A,而在70°C时有所降低。
- Pulsed Drain Current (IDM) 达到-60A,而单脉冲雪崩电流(IAS)为-25A,对应的单脉冲雪崩能量(EAS)为31.25mJ。
- 最大功率消耗在25°C时为52W,70°C时功率略有下降。
8. **温度范围**:操作和储存温度范围宽广,从TJ = -150°C至Ts = 150°C,具体条件见注释a、b。
RU30L30M-VB是一款高效、小型化的P沟道MOSFET,具有优良的性能指标和广泛的应用适应性,是工业级电子设备设计中的理想选择。在实际应用时,务必注意其特定的工作条件和焊接指导,以确保最佳性能和寿命。
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