星模拟器在光学系统杂散光测试设备设计中的应用

"基于星模拟器光学系统杂散光测试设备设计" 本文主要探讨了高分辨率光电探测相机在提升探测能力时所面临的杂散光问题。杂散光是影响探测能力的重要因素，它决定了相机探测的极限。光学系统的杂散光受到多种因素的影响，因此在系统性能评估中，必须对杂散光进行精确测试，特别是点源透射率（PST），这是衡量整个系统性能的关键指标。 为了应对这一挑战，研究团队设计了一种基于星模拟器的光学系统杂散光PST测试设备。星模拟器具有超大的动态范围光辐射输出，能够解决单个探测器动态范围不足，无法覆盖10^8光强范围的问题。在保证一定信噪比的条件下，该设备特别针对电子倍增CCD进行了杂散光PST测试能力的分析。 通过分析，该测试设备的杂散光PST测试范围可达10^-2到10^-8，这一范围完全满足了高分辨率光电探测相机的杂散光测试需求。使用这种测试设备，可以有效地评估和优化光学系统的杂散光性能，从而提高高分辨率相机的探测敏感度和信噪比，进一步提升其在天文观测、空间探测等领域的应用性能。 关键词中的“光学器件”是指用于构建光学系统的各种组件，如透镜、反射镜等，它们对杂散光的产生和控制起着关键作用。“杂散光测试”是评估光学系统性能的重要步骤，旨在测量非期望光线的分布。“点源透射率”是衡量光学系统对点光源传输效率的指标，直接影响系统对弱信号的探测能力。“星模拟器”是一种用于模拟天体光源的设备，用于在地面进行光学系统测试。“电子倍增CCD”是一种高性能的图像传感器，能以高灵敏度和低噪声捕获光线，特别适合在低光照条件下的应用。 这篇文章详细介绍了一种利用星模拟器设计的光学系统杂散光测试设备，解决了测试设备动态范围限制问题，并提供了针对电子倍增CCD的杂散光测试方案，为高分辨率光电探测相机的性能提升提供了有效工具和技术支持。