线阵扫描AOI系统关键技术研究-自动光学检测

"本文主要探讨了基于线阵扫描的自动光学检测(AOI)系统的关键技术，特别是针对并联逆变器控制的虚拟阻抗方法进行了深入研究。" 本章总结了线阵扫描自动光学检测(AOI)系统的核心构成及其工程化问题。线阵扫描AOI系统是一种用于检查半导体制造、PCB组装等领域中电路板质量的自动化设备。它通过高速线性传感器阵列连续扫描目标物体，实时捕获图像并进行分析，以识别潜在的缺陷。该系统主要包括光学成像、图像处理、运动控制等多个子系统。 在光学成像方面，线阵扫描AOI系统利用精确的光源和镜头组合，形成高对比度、高分辨率的图像，以便于检测微小的缺陷。图像处理部分则涉及图像采集、预处理、特征提取以及缺陷判断算法，这些算法对于准确识别缺陷至关重要。运动控制确保了扫描过程的稳定性和精度，通常采用精密定位和高速运动控制技术。 并联逆变器控制是系统中电力驱动部分的关键技术，特别是在虚拟阻抗方法的应用下。虚拟阻抗控制是一种先进的电力电子控制策略，它通过软件模拟实际电路中的阻抗特性，改善逆变器并联运行时的稳定性，避免环流和功率不平衡。这种方法可以优化能源转换效率，提高系统的整体性能和可靠性。 本篇博士学位论文详细研究了线阵扫描AOI系统中虚拟阻抗控制的具体实现，包括控制算法的设计、参数整定以及实际系统中的应用效果。作者通过理论分析和实验验证，展示了虚拟阻抗控制如何提升并联逆变器的协同工作能力，降低系统谐振，增强电网适应性。 此外，论文还讨论了在光学检测过程中可能遇到的实际问题，如光照不均匀、图像噪声、运动误差等，并提出了相应的解决策略。最后，作者对所做研究进行了总结，并指出了未来可能的研究方向，如进一步提升检测速度、增强系统的智能化水平和自适应能力。 这篇论文的原创性声明和论文使用授权表明，作者对研究成果的所有权，并同意授权学校保留和使用论文内容，以便于学术交流和技术传播。这体现了科研工作者对知识产权和学术规范的尊重。