高精度ADC片上测试信号发生器设计与应用

"该文介绍了一种用于高精度ADC片上测试的信号发生器设计，强调了ADC在数字化电子产品中的核心地位以及在行业和医疗产品市场中的关键作用。文中提出了一个能够产生高线性度三角波信号的方案，适用于14位高精度ADC的测试，且基于UMC0.18μm CMOS工艺，电源电压为1.8V。" 在电子技术领域，模拟数字转换器（ADC）和数字模拟转换器（DAC）是不可或缺的组件，它们在数字系统与模拟世界之间搭建桥梁。随着电子产品向数字化的深入发展，ADC和DAC的性能变得至关重要，尤其是转换精度和速度。例如，在手机等日常设备中，通信、音频信号的处理都离不开这些组件。在工业和医疗设备中，由于对数据处理的精准性和实时性的要求更高，高性能的数据转换IC成为决定产品性能的关键。 高精度ADC的测试是一个复杂的过程，因为它需要模拟真实工作环境下的各种输入信号。传统的测试方法可能受到芯片外部环境的影响，限制了测试的准确性。因此，内建自测试（BIST）技术在ADC测试中得到了广泛应用。BIST允许在芯片内部集成测试逻辑，以验证ADC在实际工作条件下的性能，减少了对外部测试设备的依赖。 本文提出的一种三角波信号发生器正是为了解决ADC内建自测试中的激励信号问题。三角波信号因其良好的线性特性，成为测试高精度ADC的理想选择。该设计采用14位高精度ADC作为目标应用，表明其产生的信号质量足以满足这类高分辨率转换器的测试需求。此外，设计采用了UMC0.18微米CMOS工艺，适应了现代集成电路的小型化和低功耗趋势，电源电压仅为1.8V，确保了高效和节能的运行。 信号发生器的设计包括对信号频率、幅度、波形线性度和稳定性等多个参数的控制。在测试电子电路时，信号源需要能够产生各种预设参数的电信号，以便评估电路在不同条件下的响应。本文提出的三角波信号发生器正是为了满足这种精确控制的需求，通过优化设计，确保产生的三角波信号具有高度的线性度，从而提高ADC测试的准确性和可靠性。 这种高精度ADC片上测试的信号发生器设计不仅解决了测试过程中的关键问题，也为未来集成电路中的自测试提供了有效的工具。随着ADC技术的发展，类似这样的创新设计将对提升整体系统性能和测试效率产生积极影响。