光电探测器相对光谱灵敏度自动测量装置设计与原理

本文介绍了一种光电探测器相对光谱灵敏度的自动测量装置，该装置专为解决硅光电探测器广泛应用带来的对其精确测量需求而设计。该装置主要由1991年的56W型小型光橱单色仪作为分光元件，采用了创新的无运动部件双光路替代法，以确保结构简单且减少光源波动对测量结果的影响。 核心测量原理是基于双光路设计，即单色仪发出的单色光被半反射半透镜分为两束：主光束照射在标定过的硅光电探测器（基准探测器）上，通过这个基准获取光谱响应；辅助光束则照射在固定的辅助探测器上，作为基准的对照，用来消除因光源变化带来的测量误差。这种设计简化了微弱信号放大电路，并提高了测量精度，但其准确性高度依赖于基准探测器的标定准确性和测量条件的一致性。 该装置利用微机进行波长的自动控制、数据采集和处理，实现了自动化操作，降低了人力成本，且因其价格实惠，具有广泛的应用潜力。除了主要用于测量硅光电探测器的相对光谱灵敏度，通过更换软件，它还能适应测量滤光片的光谱透过率，体现出良好的灵活性和通用性。 这种光电探测器相对光谱灵敏度自动测量装置在提高测量精度、简化操作流程和降低成本方面展现了显著的优势，是当时工程技术领域中的一项重要创新，对于推动光电探测器技术的发展和应用具有重要意义。