KinetisE MCU的IEC60730 B类安全测试详述

本篇文档是Freescale Semiconductor, Inc.发布的应用笔记，专注于指导用户如何对Kinetis E系列MCU进行符合IEC60730标准的B类测试。IEC60730是一个针对家用电器中嵌入式控制软件和硬件安全操作的国际标准，将其设备分为A类、B类和C类，其中B类用于确保设备在安全运行上的防护，如洗衣机的热熔断保护和门锁功能。 Kinetis E系列MCU特别适合工业控制设备和家用电器的开发，它搭载了Cortex-M0+处理器，配备了一系列安全模块如看门狗和CRC，以及丰富的内部组件如定时器、通信接口、GPIO、模拟模块等。进行IEC60730 B类测试的目的是验证这些组件在确保设备安全运行中的正确性和可靠性。 文档详细步骤包括： 1. IEC60730 B要求：首先概述了B类测试的基本要求和目的。 2. CPU寄存器测试：检查处理器核心单元是否按预期工作，确保正确配置和数据处理。 3. 程序计数器测试：验证程序流程的正确执行和跳转。 4. 中断处理和执行测试：确认中断管理系统的正常响应和处理。 5. 时钟测试：检查时钟系统是否稳定且准确。 6. 看门狗测试：评估硬件看门狗的功能是否有效防止死锁和系统故障。 7. Flash测试：验证非易失性存储器的读写能力和一致性。 8. RAM测试：检查随机存取存储器的性能和稳定性。 9. 存储器地址测试：确保内存访问的正确性和完整性。 10. 内部数据通路测试：检测数据路径的正确传输。 11. 通信测试：验证各种接口（如SPI、I2C和UART）的通信功能。 12. 通用IO测试：检查GPIO和KBI等输入输出接口的性能。 13. 模拟外设测试：确保模拟功能组件如ADC、ACMP和6位DAC的精度。 14. 模拟多路复用器测试：测试信号选择和多路切换功能。 15. Freescale提供的IEC60730安全库：利用预定义的库函数简化安全相关的测试。 16. 结论：总结全文，强调B类测试对于Kinetis E系列MCU在安全应用中的重要性。 17. 参考文献：提供进一步阅读和研究的资料来源。 18. 术语表：解释文档中使用的专业术语和缩写。 19. 附录：包含额外的技术细节和背景信息。 通过这篇应用笔记，开发者可以了解到如何按照IEC60730标准规范来全面评估Kinetis E系列MCU的安全性能，确保其在实际应用中的可靠性和安全性。