多波长散斑自相关法在抛喷丸表面粗糙度测量中的应用

"抛喷丸表面的多波长散斑自相关法粗糙度测量" 这篇论文主要探讨了如何利用多波长散斑自相关法来精确测量抛喷丸处理过的表面的粗糙度。抛喷丸是一种常见的表面处理技术，用于增强材料的机械性能，但其会导致表面形成特定的粗糙度特征。在光学测量领域，多波长散斑图案的散斑延长现象被发现可用于评估表面粗糙度。 论文中，作者刘恒彪和王昌灵详细介绍了多波长散斑自相关表面粗糙度测量方法。这种方法基于多波长散斑图案的各向同性径向辐射特性，即散斑图案在不同方向上的散射是均匀的。为了实现这一测量，他们提出了一种适应性的数字图像处理技术，包括选择合适的局部自相关函数特征长度、确定数字图像处理过程中的局部窗口尺寸以及优化散斑图像的饱和曝光比例等步骤。这些参数的选择和优化对于准确捕捉散斑延长效应至关重要。 通过实验，研究人员拍摄并处理了多个位置的抛喷丸表面的多波长远场散斑图像，计算了不同波长下的散斑自相关特性。他们选择了四种不同的表面样块，其光学粗糙度指标（R值）分别对应于0.4、0.8、1.6和3.2微米的粗糙度。分析结果显示，所提出的光学粗糙度指标能够有效反映抛喷丸表面的粗糙程度变化。 这项工作对于理解抛喷丸处理后的表面质量控制，以及在材料科学和工程应用中优化表面处理工艺具有重要意义。此外，它还为非接触式的光学测量技术提供了新的应用案例，这些技术可以高效、精确地检测各种表面粗糙度，尤其是在难以直接接触或使用传统测量工具的场合。