ATX7006：高效集成的ADC/DAC测试系统

"ATX7006是一个全面集成的数据转换测试系统，特别适用于ADC和DAC的测试，提供高精度、低噪声和高速采样。该系统集成了各种功能，包括静态和动态参数测量，以及直方图统计，通过Lua脚本简化了测试流程。其特点是高采样速率（200/400MHz），无与伦比的信号质量和准确性，并支持相干测量。系统采用专为AD/DA测试设计的背板总线，确保测试稳定性和减少校准复杂性。此外，它还包含通用的数字I/O接口，适用于不同类型的转换器测试，包括嵌入式转换器。" ATX7006的主要模块包括： 1. DIO&DIO''模块：具备不同数据传输方式（并行和串行），存储深度（8M*16bits或4M*24bits），以及不同的DIO和DIO''最大速率（50MHz/200MHz for DIO, 600MHz/1GHz for DIO''）。IO电平可设置，输出时钟抖动低至190fs（100MHz时钟下）。 2. AWG模块：包括AWG20、AWG16和AWG18，它们提供不同分辨率（22bits、16bits、20bits），数据更新率（2Msps、400Msps、20Msps），存储深度（4M字节、8M字节），输出范围（±5.1V、480Vpp~5.12Vpp等），滤波器数量，直流偏置范围，绝对精度和线性误差。这些模块适用于各种频率范围的信号生成，如15MHz、30MHz、60MHz等。 3. WFD20模块：提供16bits分辨率，180Msps数据更新率，8M字节存储深度，以及特定的输入范围和滤波器设置。 4. 双通道参考源和电源模块：具备高分辨率（20bits、16bits），快速设置时间（20ms、10ms），可设定的输出范围（±10V、±12V），以及低噪声和电流输出能力。 系统支持的测量参数包括但不限于： - 线性参数：如偏移误差、增益误差、满量程误差、INLE（积分非线性误差）、DNLE（微分非线性误差）、TUE（总无杂散动态范围）。 - 动态参数：如信噪比（SNR）、SINAD（信号加噪声加失真比）、ENOB（有效位数）、THD（总谐波失真）、SFDR（信号到杂散比）和杂散分析。 ATX7006系统软件提供了丰富的设置和分析工具，支持以太网、GPIB和USB三种连接方式，控制器内置Lua脚本支持，便于用户自定义测试流程和计算程序。其设计着重于低相位噪声，采用线性电源和精心设计的屏蔽，以保证高质量的测试结果。