虚条纹相移算法：高效三维测量新途径

"一种虚条纹相移算法在结构光三维测量中的应用" 本文探讨了虚条纹相移算法在结构光三维测量中的应用，这种算法有效地解决了传统相移法的一些局限性。相移法是基于干涉原理的一种常用三维测量技术，其主要优势在于原理简单、计算速度快。然而，它通常需要获取至少三幅以上的干涉图像，并且在实际操作中实现精确的相移量较为困难，这可能导致测量误差。 虚条纹相移算法则提供了一种创新的解决方案。该算法仅需采集一幅原始图像，就能恢复物体的三维轮廓。首先，通过分析原始图像获取其基频值f0。接着，利用计算机生成两个具有π/2相位差的虚条纹图像，分别是cos(2πf0x)和sin(2πf0x)。这两个虚条纹图像与原始图像进行混叠操作，随后对混叠后的图像进行低通滤波处理，以减少高频噪声并平滑数据。最后，结合相移算法，可以准确地恢复出物体的三维信息。 这种方法的优势在于，它既保留了相移法的高效性和简洁性，又避免了多帧图像采集的需求，同时解决了实际应用中难以实现精确相移的问题。对于非陡变物体的测量，低通滤波器的噪声抑制特性尤其有用，能够有效地去除高频噪声，提高测量的精度和稳定性。 关键词：测量、三维轮廓测量、投影条纹、相移法、虚条纹 该研究发表在中国激光的光学前沿——光电技术专刊上，由南京理工大学电子工程与光电技术学院的作者完成。该工作对于理解和改进结构光三维测量技术具有重要意义，为相关领域的研究者提供了新的思路和技术手段。