DFTCompiler使用指南：测试协议与设计规则检查

"DFT编译相关知识" 在数字集成电路设计中，可测性设计（Design for Testability，DFT）是至关重要的一个环节，它确保了芯片在制造过程中的测试效率和质量。DFTC（DFT Compiler）是实现这一目标的专用工具，通常用于自动插入扫描链和设置测试协议，以支持ATE（Automatic Test Equipment）进行测试。以下是对DFTC及其相关概念的详细解释。 1. **DFT准备**： 在开始DFT编译之前，需要进行一系列的准备工作，确保设计能够正确地进行测试。 - **定义测试协议**：这是DFT设计的基础，它包括对不同类型的DFT信号进行定义。例如，`set_dft_signal`命令用于指定端口的角色，如ScanClock、Reset、ScanDataIn等，并设置它们的激活状态和时序特性。此外，`create_test_protocol`则根据设定的规则创建测试协议，可以自动生成时钟和异步信号（尽管不推荐完全依赖工具自动识别）。 2. **DFT的设计规则检查**： - **dft_drc**：Design Rule Check是DFT编译中的关键步骤，它检查用户设定的DFT规则，确保符合测试要求，避免扫描链无法正常工作的情况，如时钟不可控或异步信号不当配置等问题。 3. **RTL test DRC检查**： 除了DFT规则检查，还需要对RTL代码进行特定的DRC检查，以识别可能导致扫描链插入问题的违例。常见的违例类型包括： - **阻止扫描链插入违例**：这通常由时钟不可控、latch的错误使能时机或异步控制信号的无效状态引起。 - **其他违例**：虽然描述中没有详细列出，但可能还包括扫描链的完整性问题、测试模式接入的冲突、信号驱动能力不足等。 4. **测试协议输出**： 完成所有检查后，通过`write_test_protocol`命令，可以将创建的测试协议输出到SPF文件，这是一种SPICE格式的文件，用于ATE设备读取和执行测试程序。 在进行DFT设计时，理解并正确应用这些工具和概念至关重要。良好的DFT设计不仅简化了生产测试，降低了测试成本，还能提高故障检测的覆盖率，从而提升整个IC产品的质量和可靠性。因此，对于任何设计团队来说，掌握DFTC的使用技巧和相关知识都是必要的。