电子散斑干涉测量的非连续性测度方向偏微分方程滤波方法

"结合非连续性测度的方向偏微分方程在电子散斑干涉中的应用" 电子散斑干涉测量技术（Electronic Speckle Pattern Interferometry，简称ESPI）是光学检测领域的一种重要技术，尤其适用于粗糙表面的变形测量和无损检测。然而，由于散斑噪声的存在，从条纹图中提取准确信息是一项挑战。传统的图像处理方法可能无法有效地去除这种噪声并保留关键特征。 方向偏微分方程（Oriented Partial Differential Equation，OPDE）是一种图像滤波技术，它特别适合于沿特定方向进行滤波，比如电子散斑干涉产生的条纹方向。OPDE方法允许在处理过程中保持图像的局部特性，从而在去除噪声的同时，尽可能地保护条纹信息不受损害。 然而，由于条纹图的密度不均匀，简单的OPDE滤波可能会在稀疏条纹区域过度滤波，导致重要信息丢失，而在密集条纹区域则可能滤波不足，噪声仍然存在。为了解决这个问题，研究者们引入了非连续性测度（Discontinuities Measure，DM），结合DM的OPDE方法可以适应性地调整滤波程度，根据图像不同位置的特征来选择合适的滤波强度。 通过在OPDE的基础上结合DM，提出的新型滤波方法能更好地适应条纹图的变化，既能有效滤除稀疏区域的噪声，又能保持密集区域的条纹细节。这一方法在对模拟条纹图和实际获取的条纹图进行滤波实验后，证明了其在噪声抑制和特征保留方面的优越性能。 关键词涉及的领域包括图像处理、电子散斑干涉测量技术、偏微分方程应用、条纹滤波以及非连续性测度的运用。此研究对于提高ESPI技术的测量精度和可靠性具有重要意义，对于后续的光学检测和图像处理算法发展提供了新的思路。 这篇研究论文发表在《电子与信息学报》第36卷第11期，2014年11月，由肖志涛、袁泉、张芳等人共同完成，并被赋予了特定的分类号和文献标识码，便于学术检索和引用。此外，它还提供了DOI（数字对象唯一标识符），方便在线查找和访问。