1064nm分振幅光偏振测量仪的多层介质分束镜设计与制备

"这篇论文详细介绍了设计和制备1064纳米分振幅光偏振测量仪（DOAP）中使用的多层介质分束镜的过程。研究者通过理论分析DOAP系统的仪器矩阵参数，确定了分束镜的最优设计，并采用离子束溅射沉积技术制造了分束镜样本及背面的减反射膜。实验结果显示，实际测量值与设计目标相符，且多层介质薄膜分束镜在基板、膜层材料选择以及入射角和工作波长变化时表现出更强的适应性，拓宽了其应用范围。文章强调了这种多层介质分束镜相对于单层薄膜分束镜的优势，并给出了相关的关键词，如薄膜、分束镜、相位延迟、偏振测量和多层介质膜。" 本文主要讨论了1064纳米光波段的分振幅光偏振测量技术，重点在于一种特殊设计的多层介质分束镜。分束镜在光学系统中起着至关重要的作用，它可以将入射光束分成两个或多个部分，这对于光偏振测量尤其重要，因为它能够分离光的振幅和相位信息。在DOAP系统中，这种分束镜被用于实现差分相移，从而精确测量光的偏振状态。 设计分束镜时，研究人员首先进行了理论分析，考虑了DOAP系统的仪器矩阵参数。这些参数包括光束的传播特性、分束比、相位延迟等，它们直接影响测量精度。通过优化这些参数，可以确保分束镜在特定波长下实现最佳性能。在本例中，设计的目标波长是1064纳米，这是激光技术中常用的波长。 为了实现这一设计，采用了离子束溅射沉积技术来制造分束镜的多层介质膜结构。这种方法允许精确控制膜层的厚度和成分，以实现所需的相位延迟和反射率。同时，还在分束镜的背面制备了减反射膜，以减少不必要的反射和损失，提高整体系统的效率。 实验结果显示，实际制备的分束镜性能与理论设计相符，表明了这种方法的有效性和可行性。多层介质薄膜分束镜的一个显著优势是它对基板材料、膜层材料的选择以及入射角和工作波长的变化具有较高的容忍度，这意味着它可以在更广泛的条件下稳定工作，拓展了其在各种光学系统和应用中的潜力。 这篇论文提供了一种新的、适用于1064纳米光偏振测量的多层介质分束镜设计和制备方法，对于光学测量技术的发展和提升具有重要意义。未来的研究可能会进一步探索这种分束镜在其他波长或复杂光学环境下的应用，以及如何进一步优化其性能。