IEEE 1450标准:半导体设计环境的STIL扩展指南

需积分: 10 3 下载量 154 浏览量 更新于2024-07-09 收藏 956KB PDF 举报
IEEE Std 1450™1999, 简称STIL(标准测试接口语言),是一项由IEEE Computer Society的Test Technology Standards Committee发起并维护的行业标准,专为半导体设计环境提供测试接口扩展规范。该标准于1999年发布,并在后续版本中不断发展和完善,如IEEE Std 1450.1™-2005 (R2011),它定义了STIL与数字测试生成工具和测试设备之间的接口,旨在增强测试过程的效率和一致性。 STIL的核心目标是建立一个标准化的测试接口,使得不同的测试工具能够无缝地与各种测试设备交互,从而实现测试流程的模块化和自动化。这包括但不限于支持自定义测试脚本、测试数据管理和测试结果分析等功能。通过STIL标准,测试工程师可以编写统一的测试程序,而无需关心底层硬件或设备的具体细节,提高了测试的灵活性和重用性。 1450.1™-2005版本对原版进行了扩展,可能包含了新的测试方法、测试策略、错误模型以及更高级的自动化功能。它可能涵盖了测试覆盖率分析、故障注入测试、模拟器接口、并行测试架构等关键领域的具体实现和指导。此外,这份标准还强调了文档的完整性和一致性,确保所有参与者都能理解和遵循相同的测试框架。 值得注意的是,下载此标准时,用户必须遵守NORTH DAKOTA STATE UNIVERSITY的许可证限制,且可能受到来自IEEE Xplore平台的访问权限约束。这表明STIL是一个受版权保护的知识产权,仅在特定条件下允许使用。 IEEE Std 1450™1999/1450.1™-2005 (R2011) 是半导体行业测试自动化的重要里程碑,它通过标准化测试接口语言,推动了测试技术的进步,促进了测试工具厂商和设计工程师之间的协作,对于提升产品质量和缩短上市时间具有显著作用。随着技术的发展,未来可能会有更多针对新需求和技术更新的STIL扩展出现。