微带线激励的SRR在低损耗基板介电常数测量中的应用

0 下载量 57 浏览量 更新于2024-09-06 收藏 500KB PDF 举报
"这篇论文是关于使用基于裂环谐振器(SRR)技术来测量低损耗基板的介电常数的研究。该方法利用微带线激励的SRR,通过观察SRR谐振频率因被测材料(MUT)的影响而产生的变化,计算未知基板的介电常数。文章提供了理论分析、仿真结果和实验验证,证明了这种非接触式的测量方法能够显著提高测量灵敏度。" 在这篇发表于《世界工程与技术杂志》(World Journal of Engineering and Technology)的2017年文章中,作者李建一探讨了如何利用开环谐振器(SRR)进行低损耗基材的介电常数测量。介电常数是表征材料电磁特性的重要参数,对于理解和设计电子设备的性能至关重要,特别是在高频和微波应用中。 SRR是一种微波元器件,其工作原理基于电磁场的谐振行为。当SRR被微带线激发时,它会产生特定的谐振频率。如果在SRR上方放置待测材料,材料的介电性质将改变SRR的谐振频率。通过监测这个频率变化,可以推算出被测材料的介电常数。这种方法的优势在于它是非接触式的,因此不会对材料的物理性质产生影响,且具有较高的灵敏度。 理论分析部分,作者可能讨论了SRR谐振特性的基本原理,以及如何根据这些特性建立数学模型来关联谐振频率变化和介电常数。仿真结果可能验证了模型的有效性,并预测了不同材料和条件下SRR的响应。实验部分则通过实际操作验证了理论和仿真的准确性,进一步确认了SRR在测量低损耗基板介电常数方面的实用性。 文章的关键词包括“裂环谐振器”、“介电常数”和“非接触式测量”,强调了研究的核心技术与应用场景。通过对SRR的深入理解和应用,科研人员和工程师可以更准确地评估和选择适用于微波电路和天线设计的低损耗基板材料,从而优化设备性能。 这项研究为非接触式测量技术提供了一种新的解决方案,特别适用于对高精度和低损耗材料特性的研究,对微波工程领域具有重要价值。