NI模块化仪器在硬件在环仿真(HIL)测试的应用

"此资源主要介绍了National Instruments（NI）的软件为核心的模块化仪器及其在硬件在环仿真(HIL)测试中的应用。NI是基于计算机的测量和自动化技术的创新者，其产品广泛应用于各种测试领域，如电子系统测试、半导体测试、射频测试等。文档详细阐述了NI模块化I/O系统的特点和优势，包括其软件定义的处理器、模块化I/O、PXI平台以及其在全球范围内的广泛应用实例。" 在详细介绍中，NI的模块化仪器以其软件为核心，允许用户自定义处理器和功能，提供灵活的配置选项。这种设计使得测试系统可以根据需要进行替换、升级和定制，例如，通过多功能信号分析数字化仪结合软件，可以构建一个模块化的自动化测试系统。 提到的PXI平台是一个开放的、基于PCI标准的高性能工业平台，具有强大的定时与同步能力，可以容纳来自多个供应商的I/O模块。PXI系统联盟确保了PXI技术的持续发展和兼容性，使其成为航空测试、控制系统测试等多个领域的首选。例如，Lockheed Martin在风洞测试中、NASA在韦伯太空望远镜的微快门测试中，以及NEC宇航系统公司在反力轮控制系统测试中都采用了NI的HIL解决方案。 NI的嵌入式控制器如PXI-8110，配备Intel四核处理器，可以运行Windows或实时操作系统，为各种测试环境提供强大计算能力。系统还支持多种总线的混合，如PXI、PXI Express、GPIB、USB、LAN/LXI等，这降低了系统集成的复杂性，同时提供了高度的灵活性和兼容性。 以软件为核心的系统带来了显著的优势，包括更高的灵活性、更低的总体成本、缩短的开发时间、轻松的升级和维护、更小的物理体积以及延长的系统寿命。用户可以通过NI的在线资源库（ni.com/idnet）下载超过8000个仪器驱动程序，进一步扩展系统的功能和应用范围。 该资源深入探讨了NI的模块化仪器技术如何推动硬件在环仿真测试的发展，展示了如何通过软件定义的系统实现高效、灵活的测试解决方案，尤其在航空航天、半导体和控制系统等复杂领域的应用。