50G-KR 设备的ERL测量及结果分析

该文档介绍了在特定测试环境下对50G-KR设备的电气回波损耗（ERL）进行了测量，并详细说明了测量环境和测试装置的具体配置。 文档中提到了一系列的测试配置元素，如DUT（Device Under Test，待测设备），评估连接器，测试夹具，传输线，VNA（矢量网络分析仪）电缆，以及PCB（印刷电路板）。同时，也提到了测试点TP0/5，TP0a/5a，以及它们与封装球（PKG ball）和连接器的对应关系。这些配置对测试结果具有重要影响，因为它们定义了信号路径以及对信号完整性的评估。 报告中还特别提到了50G-KR设备的传输（Tx）ERL测量，列出了频率范围和对应电气特性数据，例如SDD11参数、TDR（时域反射）和RL（回波损耗）。报告中对不同测试案例进行了描述，并给出了相应的测量结果，例如 Tx RL 和 Tx TDR，这些测试结果在图形和数值上表现出来，用以评估设备性能是否达到特定的规范标准，比如CR Spec KR Spec。 具体数值方面，例如对于某个设备（Tx）ERL的测量结果为17.72dB，这表明在特定测试条件下的电气回波损耗为17.72分贝。这个数据帮助工程师评估信号传输的效率和质量。另外，报告中提到的 'Tfx=1.90ns' 是指测试装置上的一个时延值，这对于理解信号在测试路径中的传播和反射特性至关重要。 最后，文档提到了一些规范标准，如 'D3.1 : 19.5dB'，这可能是该测量项目需要达到的行业标准或设计目标。并且，该报告中还提到了 'Tx PTDRelfad hoc (02/21) : 16.1dB'，这可能是一个特定的参考值，用于对比或评估测试结果。 整个文档是围绕50G-KR设备的电气特性和测试配置进行的详细技术描述，为工程师提供了评估高速数字信号传输设备性能的重要数据。" 知识点包括但不限于： 1. 50G-KR设备的电气回波损耗（ERL）测量的重要性。 2. 测量环境配置，包括评估连接器、测试夹具、VNA电缆、传输线、PCB等。 3. 测试点的设置，例如TP0/5和TP0a/5a，以及它们与封装球（PKG ball）和连接器之间的关系。 4. 电气特性参数SDD11、TDR和RL的测量和意义。 5. 测试案例的定义和它们对评估设备性能的影响。 6. 'Tfx'（测试装置上的时延值）对信号传播和反射特性分析的作用。 7. CR Spec KR Spec等规范标准，以及它们在50G-KR设备性能评估中的作用。 8. 特定参考值，如 'Tx PTDRelfad hoc (02/21) : 16.1dB' 的意义和作用。