VLSI测试方法：扫描路径法在组合电路测试中的应用

"该文主要讨论的是VLSI(超大规模集成电路)中的扫描路径测试方法，特别是针对国科大模式识别课程2018期末试题中的相关内容。扫描路径法是将时序电路转换为组合电路，简化测试过程，其中扫描路径上的触发器状态可以透明地设置和读取。测试生成主要关注组合电路部分，不涉及异步信号和非重叠时钟控制的锁存器。测试施加则分为两步，首先是触发器的测试，然后是组合电路的测试。文中还提到了测试方法学和可测性设计在VLSI领域的应用，并推荐了一本相关教材，该教材涵盖了电路测试的基础理论、数字电路的描述与模拟、专用可测性设计等多个主题，适合集成电路设计、制造、测试等相关专业人士和学生参考学习。" 在VLSI测试中，扫描路径图例是一种重要的测试策略。通过将时序电路转变为组合电路，可以更容易地生成和应用测试。在描述中提到，扫描路径法的一个关键优势是，它允许触发器的状态通过串行方式设置和读取，增强了电路的可控性和可观性。组合电路部分的测试生成主要针对无异步信号、锁存器受非重叠时钟控制的情况，且测试结束点需符合原始电路的输入和输出考虑。这种方法通常应用于所有触发器都处于扫描路径上的电路，这样可以简化测试生成的过程。 测试施加阶段分为两步：首先测试触发器，这是因为组合电路的测试控制和结果观察依赖于触发器的状态。然后，对组合电路部分进行测试。在图6.5所示的电路例子中，组合电路被划分为两个部分，每个部分都有原始输入，并且通过扫描路径提高了测试的效率。 此外，提到了一本名为《VLSI测试方法学和可测性设计》的教材，该书详细介绍了电路测试的基本概念、数字电路的测试生成、专用可测性设计、扫描和边界扫描等方法，涵盖了从电路级到系统级的测试技术。这本教材不仅适用于学术教育，也适合于实际工程应用中的专业人士参考。 综合来看，扫描路径法是VLSI测试中的一个重要工具，通过这种方法，可以有效地对复杂集成电路进行测试和故障诊断，而《VLSI测试方法学和可测性设计》这本书则为深入理解和应用这些技术提供了全面的理论支持和实践指导。