基于PWM的激光成像扫描同步控制技术提升精度
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更新于2024-08-11
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本文档主要探讨了激光成像仪器中的行、场扫描同步控制技术,发表在2006年的吉林大学学报(工学版)第36卷第5期。作者刘光达和邓广福针对提升光点定位精度和整体成像质量的需求,提出了采用脉冲宽度调制(PWM)控制结合双光栅反馈的创新方案。这项工作基于数字PID(比例-积分-微分)控制原理,利用了微处理器和高性能H桥组件LMD18200来构建了一个全数字化的同步系统。
该系统的设计重点在于实现水平光学扫描与由直流力矩电机驱动的垂直扫描的精确同步。通过集成在一个芯片上,简化了系统的硬件结构,并允许用户通过软件灵活设置控制参数,方便了系统的调试和调整。这种同步控制方式相比于传统的开环步进电机驱动方法,显著提高了位置精度,将误差从±50微米提升到了±20微米,这对于高分辨率成像至关重要。
论文的作者刘光达是一位光电仪器设计方面的教授和博士生导师,他的研究方向涉及激光成像仪器的设计和优化。文中还提到了该研究得到了“九五”国家科技攻关计划项目和吉林省科技发展计划项目的资金支持。
整篇文章围绕自动控制技术、激光扫描、PWM控制、同步精度、数字PID算法以及行、场扫描的双芯片解决方案展开,旨在为提高激光成像设备的性能提供一种创新的技术途径。关键词包括自动控制技术、激光扫描、PWM、同步精度、数字PID、行、场扫描和双芯片,这些关键词为读者提供了快速了解论文核心内容的线索。这篇论文对于激光成像技术的进一步发展具有一定的理论价值和实践意义。
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