JTAG电路设计规范与应用

"JTAG电路设计规范，详细介绍了JTAG电路设计的重要性和应用，依据IEEE 1149.1标准，旨在提升产品可靠性和稳定性。" 本文详细阐述了JTAG（Joint Test Action Group）电路设计的相关知识，适用于所有遵循IEEE Std 1149.1规范的JTAG器件应用设计。JTAG技术是一种广泛应用于芯片测试和调试的接口，它通过Test Access Port (TAP) 提供对设备内部逻辑的访问。TAP由一系列控制信号组成，包括TCK（Test Clock Input）、TMS（Test Mode Select input）、TDI（TestData Input）、TDO（TestData Output）以及可选的TRST（Test Reset input）。 1. JTAG的目的： JTAG电路设计的重要性在于它能帮助设计人员检测和修复产品中的潜在问题，防止因设计不当导致的不稳定性和故障。然而，许多设计者对JTAG的理解不足，常常忽视其电路设计，这可能埋下隐患，影响产品的稳定性和市场竞争力。本规范旨在统一JTAG电路设计，提高产品的可靠性和稳定性。 2. JTAG的适用范围： 该规范适用于所有包含IEEE Std 1149.1兼容JTAG器件的产品设计，覆盖了从开发、中试到生产的全过程。 3. JTAG术语定义： - TAP（Test Access Port）：测试存取通道，是JTAG接口的核心，通过它实现对芯片内部的访问。 - TCK（Test Clock Input）：测试时钟输入，控制JTAG操作的时序。 - TMS（Test Mode Select input）：测试模式选择输入，通过TMS信号改变TAP控制器的状态。 - TDI（TestData Input）：测试数据输入，用于向设备内部传递数据。 - TDO（TestData Output）：测试数据输出，用于从设备内部读取数据。 - TRST（Test Reset input）：测试复位输入，用于将TAP控制器重置为Test-Logic-Reset状态。 4. JTAG功能简介： JTAG接口提供了在线仿真和边缘扫描测试功能。边缘扫描测试是一种高效的方法，通过在每个I/O引脚附近添加移位寄存器和锁存器，控制输入信号并捕获输出信号，确保在正常运行时不影响设备功能。这种技术使得测试更加全面且不干扰设备的正常操作。 5. JTAG内部结构： JTAG接口通常包括多个边界扫描链，每个链由连接到输入/输出引脚的移位寄存器组成。在测试模式下，这些寄存器可以用来设置输入值或读取输出值，而在正常工作模式下则透明存在。 JTAG电路设计规范对于确保电子产品的质量和可靠性至关重要。遵循这些规范，设计者能够更有效地调试和测试产品，从而减少潜在问题，增强产品的市场竞争力。