氧气A带偏最小二乘基线拟合：提高光谱分析准确性

本文主要探讨了氧气A吸收带的自发射光谱与透射率之间的关系，并提出了一种基于偏最小二乘回归法的基线拟合技术。作者首先引用黑体辐射理论，构建了一个计算氧气A带平均透射率的方法，这种方法以实际被测目标的光谱作为研究对象，通过带外数据来进行基线校正。偏最小二乘法的优势在于它能够在处理大量数据时，有效抑制噪声，提高拟合精度。 在实施过程中，文章强调了排除测量奇异点的重要性，这些异常值可能会影响拟合结果的准确性。作者通过搭建实验系统，使用卤素灯作为光源，在不同距离和分辨率下获取光谱曲线，对拟合结果进行了详尽的评估。具体分析显示，随着分辨率的下降，基线拟合的不确定度减小，信号与噪声的比例（信噪比）随之增加。同时，基线拟合的不确定度与测试设备的分辨率密切相关：分辨率越高，带外信息的基线拟合不确定度较大；而当分辨率降低时，带外基线拟合的不确定度相应减小。 这项研究的结果对于优化光谱分析中的基线校正策略具有重要意义，特别是在高分辨率环境下，它提供了一种更为精确的基线拟合方法，有助于提高光谱分析的准确性和稳定性。此外，文中提到的关键词——光谱学、氧气A带、基线拟合、偏最小二乘回归和拟合不确定度，都围绕着本文的核心内容，突显了其在现代光谱学领域的应用价值。