JEDEC ESD JS-002-2022: 电静电放电敏感度测试标准
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更新于2024-06-19
收藏 1.48MB PDF 举报 "JEDEC ESD JS-002-2022 是一份由 Electrostatic Discharge Association (ESDA) 和 JEDEC Solid State Technology Association 共同制定的美国国家标准，用于静电放电敏感性测试 - 充电设备模型 (Charged Device Model, CDM) 的设备级别测试。这份标准是对 ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018 的修订版，旨在为电子元器件提供静电防护和性能评估的统一规范。标准的目的是消除制造商和购买者之间的误解，促进产品的互换性和改进，并帮助购买者根据特定需求选择合适的产品。"
此文档详细描述了如何进行静电放电 (ESD) 敏感度测试，特别是针对充电设备模型的测试方法。CDM 测试是 ESD 测试的一种，它模拟了设备在制造、处理或使用过程中因接触带电物体而可能遭受的静电冲击情况。标准规定了测试条件、设备设置、测试程序以及合格标准，以确保电子设备在实际应用中的可靠性。
测试内容可能包括但不限于以下几个方面：
1. **测试配置**：定义了测试装置的配置，包括充电板、测试探头和环境条件（如湿度和温度）。
2. **测试等级**：设定了多个能量等级的测试，以评估设备对不同强度静电冲击的耐受能力。
3. **测试步骤**：详细说明了如何对样品进行预处理、充电、接触和放电的过程，以及如何记录和分析结果。
4. **结果评估**：规定了如何根据测试结果判断设备是否符合标准要求，包括失效模式分析和性能阈值。
5. **设备分类**：依据测试结果，将设备分为不同的 ESD 敏感度等级，指导生产和设计过程中的静电防护措施。
6. **质量控制**：标准还可能涉及质量控制和持续改进的流程，确保测试的一致性和准确性。
7. **合规性**：对于电子行业，符合JEDEC和ESDA标准是产品进入市场前必须考虑的重要因素，因为它确保了产品的质量和安全性。
此标准的更新，如 JS-002-2022 版本，通常会反映技术发展、新的测试方法或业界最佳实践，以适应不断变化的电子元器件和系统的需求。对于制造商来说，遵循这些标准有助于减少产品因ESD导致的故障，提高客户满意度，并减少召回和保修成本。对于买家而言，了解这些标准可以帮助他们选择符合安全和性能要求的产品。
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2022
Contents
Page
vii
Annex I (Informative) Waveform Verification Procedures Using Factor/Offset and
Software Voltage Adjustment Methods
.........................................................................34
I.1 Factor/Offset Adjustment Method ......................................................................................34
I.2 Software Voltage Adjustment Method ...............................................................................37
I.3 Example Parameter Recording Tables ...............................................................................41
Annex J (Informative) Determining the Appropriate Charge Time (Delay) for Full
Charging of a Large Module or Device
.........................................................................42
J.1 Procedure for Charge Time (Delay) Determination .........................................................42
Annex K (Informative) Bibliography ...............................................................................................44
Annex L (Informative) Revision History for ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 ............................45
L.1 Joint Document Summary ....................................................................................................45
L.2 ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014: Summary by Clause ..............................................45
L.3 ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018: Summary by Clause ..............................................46
L.4 ESDA/JEDEC JWIP-002-2021: Summary by Clause ....................................................46
Figures Page
Figure 1 — Simplified CDM Tester Hardware Schematic ............................................................. 4
Figure 2 — CDM Characteristic Positive/Negative Waveforms and Parameters ......................... 12
Figure 3 — Verification Module Thickness, Flatness, Dishing, and Doming Illustrations .......... 20
Figure 4 — Simplified CDM Tester Electrical Schematic ............................................................ 28
Figure 5 — Sample Waveforms from a 1 GHz Oscilloscope ....................................................... 28
Figure 6 — Sample Waveforms from an 8 GHz Oscilloscope ..................................................... 28
Figure 7 — Single Discharge Procedure (Field Charging, I
CDM
Pulse, and Slow Discharge) ....... 32
Figure 8 — Dual Discharge Procedure ......................................................................................... 33
Figure 9 — Example of a Waveform Verification Flow for Qualification and Quarterly Checks
Using the Factor/Offset Adjustment Method ............................................................ 35
Figure 10 — Example of a Waveform Verification Flow for the Routine Checks ....................... 36
Figure 11 — Example of the Impact of Factor Adjustment on the Average Ip for the Large
Verification Module High Bandwidth Oscilloscope ................................................ 37
Figure 12 — Example of a Waveform Verification Flow for Qualification and Quarterly Checks
Using the Software Voltage Adjustment Method .................................................... 39
Figure 13 — Example of a Waveform Verification Flow for the Routine Checks ....................... 40
Figure 14 — Example Characterization of Charge Time (Delay) Versus Ip ................................ 43
Tables Page
Table 1 — CDM Waveform Characteristics for a 1 GHz Bandwidth Oscilloscope ..................... 11
Table 2 — CDM Waveform Characteristics for a High Bandwidth (≥ 6 GHz) Oscilloscope ...... 11
Table 3 — CDM ESDS Device Classification Levels .................................................................. 18
Table 4 — Specification for CDM Tester Verification Modules (Metal Discs) ........................... 19
Table 5 — Inclusion of Lower ESD Level High-Speed Pin Data ................................................. 25
Table 6 — Example Waveform Parameter Recording Table for the Factor/Offset Adjustment
Method ......................................................................................................................... 41
Table 7 — Example Waveform Parameter Recording Table for the Software Voltage Adjustment
Method ......................................................................................................................... 41
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