VLSI测试方法与SoC可测性设计：挑战与解决方案

《可复用核的分类 - 国科大 - 模式识别 - 2018期末试题》是一份关于VLSI（Very Large Scale Integration，大规模集成电路）领域的学术资料，着重讨论了可复用核在系统-on-a-Chip (SoC) 设计中的分类和挑战。软核、固核和硬核是三种主要的可复用核类型，它们在灵活性、设计流程、表达能力、处理工艺、可携带性和测试问题上有所不同。 1. 软核：这类核设计非常灵活，允许高度定制和不确定性，适合系统设计的早期阶段。设计流程包括RTL（ Register Transfer Level，寄存器传输级）设计，其表达形式为行为级代码，无需预定义库，可以无限扩展。然而，软核的缺点在于缺乏预定义的处理工艺和库映射，且测试时需要解决时序再验证和复用性等问题。 2. 固核：相对较为灵活，采用版图和布线设计，同时结合RTL或模块化的网表。它通常基于参考设计，有固定的处理工艺，需要进行库映射和时间模型验证。固核在SoC测试中涉及嵌入引脚、不同IP核间的测试整合等复杂问题。 3. 硬核：最为受限，设计较为固定，具有可预测的性能，依赖于特定的Routing和验证过程。硬核测试涉及到图形的可靠性、高速测试以及对Memory、PLL等硬件组件的测试。它们通常在制造过程中通过过程映射实现，测试复用性成为关键挑战。 12.1.2节详细讨论了SoC测试中面临的具体问题，如时序一致性、缺乏内部测试手段、接口可达性、兼容性测试、高速度测试的挑战，以及如何确保Memory、PLL等硬件组件的测试结果准确可靠，同时还要考虑内存存取控制、可控性和可观性，以及测试和可测性复用性设计。 《VLSI测试方法学和可测性设计》这本书，由雷绍充、邵志标和梁峰编著，深入讲解了VLSI领域的测试技术和可测性设计。内容涵盖基本测试概念、数字电路描述与模拟、电路测试生成、专用可测性设计、扫描与边界扫描、IDDQ测试、随机和伪随机测试等。此外，书中还特别关注了Memory、PLL等特殊电路以及SoC的可测性设计方法，为从事集成电路设计、制造、测试的专业人员提供了全面的学习资源，同时也适用于高等教育中的高级课程。版权信息和联系方式也包含在内，以保障著作权益。