HFSS时域TDR实验：优化设置与分辨率解析

实验TDR.doc是一份关于使用Ansys HFSS进行时域反射(TDR)分析的详细实验文档。TDR是一种广泛应用于电子工程中的非接触性测试技术，用于测量电路或结构的电气特性，特别是在评估导体、连接器和材料性能方面。文档包含了四个实验部分，每个实验都有独特的求解设置和仿真模型。 实验一以"lab_trace_lump_1_1.hfss"工程文件为基础，涉及一个由三段2mm长、0.1524mm宽和0.01778mm高的迹线构成的模型，采用FR4-4.4的板材。求解设置中强调了细化网格的自适应迭代次数的重要性，初始设置为6，并提示根据实际需要动态调整。RISEtime参数的选择决定了时域反射的分辨率，提供了一系列数值供选择。实验结果展示了反射信号和特性阻抗的变化，以及两个阻抗不连续点的存在。 实验二作为实验一的对照组，通过改变中间迹线的X坐标，主要观察这种变化对TDR的影响。求解设置保持类似，但模型设计有所变动。 实验三涉及的是"lab_via_1.hfss"工程文件，重点是利用多层电路板中的via（通孔）进行TDR分析。求解设置包含对电路结构和边界条件的详细配置。仿真结果显示反射分析和TDR曲线，展示了via对信号传播的影响。 实验四的求解设置和仿真模型没有直接给出，但从提供的图片中可以看到，它可能涉及更复杂的电路结构或者不同的材料特性分析。同样，TDR分析在这个实验中也是一个关键部分。 总体来说，这份文档详细地介绍了如何在HFSS中进行TDR实验，包括设置参数、选择合适的分辨率、理解和解释反射信号和TDR曲线，以及如何根据具体电路设计进行对比分析。这对于理解并应用TDR技术进行电路性能评估具有很高的实用价值。