TD-SCDMA终端测试仪下行链路设计与仿真：大功率可调与低误差研究

TD-SCDMA终端综合测试仪下行链路的设计与仿真是一项关键任务，由李溢杰博士在北京邮电大学信息与通信工程学院开展研究。文章首先介绍了TD-SCDMA系统的射频子系统，这是整个系统中的重要组成部分，负责信号的上下变频、功率控制等功能。通常的射频子系统下行链路流程包括中频信号处理、混频、放大、衰减控制和最终的信号检测。 在TD-SCDMA终端综合测试仪的设计中，对下行链路的要求更为严格。测试仪需具备输出信号功率可调至极低，如-108dBm以下的能力，以满足测试终端接收机参考灵敏度和功率控制性能的需求。同时，测试仪表的误码率指标远高于终端，通常要求误码率矢量幅度小于2.5%。 作者在设计过程中特别关注了可调衰减器的选择和使用，对比了其与固定衰减器的优缺点。可调衰减器能够提供更大的灵活性，但可能会增加复杂性和成本。因此，作者将射频子系统下行链路划分为调制模块、可调衰减模块和步进衰减模块，分别进行细致的分析和电路设计。使用ADS2006仿真软件对电路进行了验证，确保设计符合预期，达到精确的功率控制和低误差水平。 本文的核心内容是通过对TD-SCDMA终端综合测试仪射频子系统下行链路的深入理解，结合实际测试需求，提出了一种高效且精确的设计方案，这不仅有助于提升测试的准确性和效率，也为其他类似设备的研发提供了有价值的参考。通过这项研究，可以更好地推动TD-SCDMA技术的发展和应用。