VLSI测试方法与可测性设计——电路测试与变迁序列解析

"该资源是一份关于国科大模式识别课程2018期末试题的解答，主要讨论了变迁序列的推导。题目通过构建状态变迁树，解释了如何从状态A通过输入0或1来达到状态B的最短序列，这个序列是100。此外，还提到了一种表格形式来求解变迁序列。" 知识点详细说明: 1. 状态变迁: 在模式识别或者自动控制理论中，状态变迁描述了一个系统如何根据输入信号从一个状态转移到另一个状态。在这个例子中，电路的状态可以通过输入0或1进行改变。 2. 变迁序列: 这是指一系列特定的输入序列，导致系统从起始状态转换到目标状态。在题目中，从状态A到状态B的最短变迁序列是1010。 3. 状态树: 这是一种可视化工具，用于表示所有可能的状态变化路径。在图4.1(b)中，每个节点代表一个状态，分支代表输入0或1后可能到达的新状态。 4. 可终止分支: 当一个分支中的状态重复出现时，该分支被终止，表示没有必要继续沿着这条路径进行状态转移，因为它不会导向新的状态。 5. 可测性设计: 在VLSI(超大规模集成电路)领域，可测性设计是确保电路能够被有效地测试和诊断的关键部分。这通常涉及到在设计阶段就考虑测试方案，例如使用扫描链和边界扫描技术。 6. VLSI测试方法学: 这是关于如何对VLSI电路进行测试的一整套理论和技术，包括生成测试向量、评估电路性能、检测故障等。 7. IDDQ测试: IDDQ代表“电流断电检测”，是一种检查电路功耗的测试方法，通过测量电路在不同输入条件下的静态电流来识别潜在的故障。 8. 随机和伪随机测试: 这些测试方法利用随机或看似随机的输入序列来覆盖大量可能的电路行为，以提高测试覆盖率。 9. 内建自测试(BIST): BIST是一种在芯片内部集成测试逻辑的方法，允许电路自我诊断，减少了对外部测试设备的依赖。 10. 数据压缩结构: 在VLSI测试中，数据压缩用于减少测试数据的大小，提高测试效率，同时保持足够的故障检测能力。 11. Memory和SoC的可测性设计: 对于内存单元和系统级芯片(SoC)，可测性设计需要解决更复杂的测试问题，如存储器阵列的测试和多模块系统的协调测试。 这本书"VLSI测试方法学和可测性设计"涵盖了这些主题，并为集成电路设计、测试和应用提供了一套全面的理论基础和实践指导。无论是学生还是专业人士，都可以从中学习到如何有效地测试和验证VLSI设计，以确保其质量和可靠性。