基于ARM的低成本嵌入式软件白盒测试系统设计与应用

嵌入式系统/ARM技术中的嵌入式软件白盒覆盖测试系统设计是一项针对日益增长的嵌入式系统应用需求，提高软件质量的关键技术。嵌入式软件通常采用C等高级语言开发，因此对其进行测试的重要性不言而喻。然而，当前市场上主要依赖于国外厂商提供的测试平台，如Teleloglc的Logi-scope、Metrowerk的CodeTest、Windriver的CoverageScope以及IPL的Cantata等，这些平台虽然功能强大、技术先进，但高昂的价格（可达数万美元甚至更多）使得它们在国内的普及受到了限制，增加了嵌入式系统开发的成本。 为了应对这一问题，国内研究者致力于开发成本更为亲民的解决方案。例如，通过构建基于目标开发的测试系统，这种系统着重实现基于仿真的嵌入式C语言软件覆盖测试分析。该系统包含五个关键模块：词法语法分析、自动插装、测试用例生成与插入、动态仿真运行以及覆盖报告分析。词法语法分析确保了源代码的有效处理，而自动插装则简化了测试流程。通过动态仿真运行，系统可以在虚拟环境中执行测试用例，生成详细的覆盖报告，从而提高了测试效率，降低了人工测试的繁琐度，有效缩短了嵌入式系统的开发周期。 这个设计旨在解决嵌入式软件测试中的成本和技术挑战，通过提升测试效率和降低成本，以促进国内嵌入式系统开发的高质量和广泛应用。通过这种方式，研究人员正在努力缩小与国际先进水平的差距，推动国内嵌入式系统技术的发展。